J 1994

X-ray characterization of semiconductor surfaces and interfaces

PLOTZ, W. a Václav HOLÝ

Základní údaje

Originální název

X-ray characterization of semiconductor surfaces and interfaces

Autoři

PLOTZ, W. a Václav HOLÝ

Vydání

J. Phys. III France 4, 1994

Další údaje

Jazyk

angličtina

Typ výsledku

Článek v odborném periodiku

Obor

10302 Condensed matter physics

Stát vydavatele

Francie

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Kód RIV

RIV/00216224:14310/94:00000015

Organizační jednotka

Přírodovědecká fakulta

UT WoS

A1994PH37300008
Změněno: 18. 4. 2000 10:31, prof. RNDr. Václav Holý, CSc.

Návaznosti

MSM 143100002, záměr
Název: Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur