New Technique of Measurement of Optical Parameters of thin Films

HLÁVKA, Jan; Ivan OHLÍDAL a František VIŽĎA. New Technique of Measurement of Optical Parameters of thin Films. Thin Solid Films. Oxford, UK: Elsevier science, 1996, roč. 279, s. 209-212. ISSN 0040-6090.

Základní údaje

Originální název

New Technique of Measurement of Optical Parameters of thin Films

Autoři

HLÁVKA, Jan; Ivan OHLÍDAL a František VIŽĎA

Vydání

Thin Solid Films, Oxford, UK, Elsevier science, 1996, 0040-6090

---

Další údaje

Jazyk

angličtina

Typ výsledku

Článek v odborném periodiku

Obor

10301 Atomic, molecular and chemical physics

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Označené pro přenos do RIV

Ano

Organizační jednotka

Přírodovědecká fakulta

UT WoS

A1996VB37200040

Klíčová slova anglicky

Optical properties; Photovoltage; Semiconductors

Štítky

Optical properties, Photovoltage, Semiconductors