Výpis publikací

PAVELKA, Radek, Ivan OHLÍDAL, Jan HLÁVKA, Daniel FRANTA a Helmut SITTER. Optical characterization of thin films with randomly rough boundaries using the photovoltage method. Thin Solid Films. UK Oxford: Elsevier science, 2000, roč. 366, č. 1, s. 43-50. ISSN 0040-6090.

HLÁVKA, Jan, Ivan OHLÍDAL a František VIŽĎA. New Technique of Measurement of Optical Parameters of thin Films. Thin Solid Films. Oxford, UK: Elsevier science, 1996, roč. 279, s. 209-212. ISSN 0040-6090.