HUMLÍČEK, Josef. Infrared ellipsometry of LiF. Thin Solid Films. UK Oxford: Elsevier science, 1998, roč. 1998, 313-314, s. 687-691. ISSN 0040-6090.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název Infrared ellipsometry of LiF
Autoři HUMLÍČEK, Josef.
Vydání Thin Solid Films, UK Oxford, Elsevier science, 1998, 0040-6090.
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Článek v odborném periodiku
Obor 10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele Velká Británie a Severní Irsko
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
Impakt faktor Impact factor: 1.019
Kód RIV RIV/00216224:14310/98:00000753
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
UT WoS 000073761700125
Klíčová slova anglicky ellipsometry
Štítky ellipsometry
Změnil Změnil: prof. RNDr. Josef Humlíček, CSc., učo 307. Změněno: 10. 1. 2000 15:39.
Návaznosti
MSM 143100002, záměrNázev: Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur
VytisknoutZobrazeno: 27. 4. 2024 21:07