Ellipsometric study of fano resonance in heavily doped p-type Si and SiGe alloys

HUMLÍČEK, Josef. Ellipsometric study of fano resonance in heavily doped p-type Si and SiGe alloys. Thin Solid Films. UK Oxford: Elsevier science, 1998, roč. 1998, 313-314, s. 656-660. ISSN 0040-6090.

Základní údaje

Originální název

Ellipsometric study of fano resonance in heavily doped p-type Si and SiGe alloys

Autoři

HUMLÍČEK, Josef

Vydání

Thin Solid Films, UK Oxford, Elsevier science, 1998, 0040-6090

---

Další údaje

Jazyk

angličtina

Typ výsledku

Článek v odborném periodiku

Obor

10302 Condensed matter physics

Stát vydavatele

Velká Británie a Severní Irsko

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Impakt faktor

Impact factor: 1.019

Organizační jednotka

Přírodovědecká fakulta

UT WoS

000073761700119

Klíčová slova anglicky

ellipsometry

Štítky

ellipsometry