1998
Spectroscopic ellipsometry of fullerene embedded langmuir-blodgett films with surface plasmon excitation
BORTCHAGOVSKY, E.; I. YURCHENKO; Z. KAZANTSEVA; Josef HUMLÍČEK; J. HORA et. al.Základní údaje
Originální název
Spectroscopic ellipsometry of fullerene embedded langmuir-blodgett films with surface plasmon excitation
Autoři
BORTCHAGOVSKY, E.; I. YURCHENKO; Z. KAZANTSEVA; Josef HUMLÍČEK a J. HORA
Vydání
Thin Solid Films, UK Oxford, Elsevier science, 1998, 0040-6090
Další údaje
Jazyk
angličtina
Typ výsledku
Článek v odborném periodiku
Obor
10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele
Velká Británie a Severní Irsko
Utajení
není předmětem státního či obchodního tajemství
Impakt faktor
Impact factor: 1.019
Organizační jednotka
Přírodovědecká fakulta
UT WoS
000073761700145
Klíčová slova anglicky
ellipsometry
Štítky
Změněno: 12. 5. 1999 07:47, prof. RNDr. Josef Humlíček, CSc.