Epitaxial growth and characterization of Y2Co17(0001) thin films deposited on W(110)

ROBAUT, F.; Petr MIKULÍK; N. CHERIEF; O.F.K. MC GRATH; D. GIVORD; T. BAUMBACH a J.Y. VEUILLEN. Epitaxial growth and characterization of Y₂Co₁₇(0001) thin films deposited on W(110). J. Appl. Phys. USA: American Institute of Physics, 1995, roč. 78, s. 997-1003. ISSN 0021-8979.

Základní údaje

Originální název

Epitaxial growth and characterization of Y₂Co₁₇(0001) thin films deposited on W(110)

Název česky

Epitaxní růst a charakterizace tenkých vrstev Y₂Co₁₇(0001) deponovaných na W(110)

Autoři

ROBAUT, F.; Petr MIKULÍK; N. CHERIEF; O.F.K. MC GRATH; D. GIVORD; T. BAUMBACH a J.Y. VEUILLEN

Vydání

J. Appl. Phys. USA, American Institute of Physics, 1995, 0021-8979

---

Další údaje

Jazyk

angličtina

Typ výsledku

Článek v odborném periodiku

Obor

10302 Condensed matter physics

Stát vydavatele

Spojené státy

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Odkazy

URL

Organizační jednotka

Přírodovědecká fakulta

Klíčová slova anglicky

epitaxy; epitaxial growth; x-ray characterization; laser ablation

Štítky

epitaxial growth, epitaxy, laser ablation, x-ray characterization

Příznaky

Mezinárodní význam, Recenzováno

---

Anotace

V originále

The paper deals with epitaxial growth and characterization of Y₂Co₁₇(0001) thin films deposited on W(110).

Česky

Článek se zabývá epitaxním růstem a charakterizací tenkých vrstev Y₂Co₁₇(0001) deponovaných na W(110).