Epitaxial growth and characterization of Y2Co17(0001) thin films deposited on W(110)

ROBAUT, F.; Petr MIKULÍK; N. CHERIEF; O.F.K. MC GRATH; D. GIVORD; T. BAUMBACH a J.Y. VEUILLEN. Epitaxial growth and characterization of Y₂Co₁₇(0001) thin films deposited on W(110). J. Appl. Phys. USA: American Institute of Physics, 1995, roč. 78, s. 997-1003. ISSN 0021-8979.

Základní údaje

Originální název

Epitaxial growth and characterization of Y₂Co₁₇(0001) thin films deposited on W(110)

Název česky

Epitaxní růst a charakterizace tenkých vrstev Y₂Co₁₇(0001) deponovaných na W(110)

Autoři

ROBAUT, F.; Petr MIKULÍK; N. CHERIEF; O.F.K. MC GRATH; D. GIVORD; T. BAUMBACH a J.Y. VEUILLEN

Vydání

J. Appl. Phys. USA, American Institute of Physics, 1995, 0021-8979

---

Další údaje

Jazyk

angličtina

Typ výsledku

Článek v odborném periodiku

Obor

10302 Condensed matter physics

Stát vydavatele

Spojené státy

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Odkazy

URL

Označené pro přenos do RIV

Ne

Organizační jednotka

Přírodovědecká fakulta

Klíčová slova anglicky

epitaxy; epitaxial growth; x-ray characterization; laser ablation

Štítky

epitaxial growth, epitaxy, laser ablation, x-ray characterization

Příznaky

Mezinárodní význam, Recenzováno

---

Anotace

V originále

The paper deals with epitaxial growth and characterization of Y₂Co₁₇(0001) thin films deposited on W(110).

Česky

Článek se zabývá epitaxním růstem a charakterizací tenkých vrstev Y₂Co₁₇(0001) deponovaných na W(110).