-
ROBAUT, F.; Petr MIKULÍK; N. CHERIEF; O.F.K. MC GRATH; D. GIVORD; T. BAUMBACH a J.Y. VEUILLEN. Epitaxial growth and characterization of Y2Co17(0001) thin films deposited on W(110). J. Appl. Phys. USA: American Institute of Physics, 1995, roč. 78, s. 997-1003. ISSN 0021-8979.Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/205352/cs