Optimum crystalline fraction in p-(ľcSi:H) layers for pin solar cells: in-situ study by ellipsometry and Kelvin probe

HAMMA, S.; Pavel SŤAHEL a C.P. ROCCA. Optimum crystalline fraction in p-(ľcSi:H) layers for pin solar cells: in-situ study by ellipsometry and Kelvin probe. In 2nd WCEPSE. 1. vyd. Wien: University of Wien, 1998, s. 10-13.

Základní údaje

Originální název

Optimum crystalline fraction in p-(ľcSi:H) layers for pin solar cells: in-situ study by ellipsometry and Kelvin probe

Autoři

HAMMA, S.; Pavel SŤAHEL a C.P. ROCCA

Vydání

1. vyd. Wien, 2nd WCEPSE, s. 10-13, 1998

Nakladatel

University of Wien

---

Další údaje

Jazyk

angličtina

Typ výsledku

Stať ve sborníku

Obor

10305 Fluids and plasma physics

Stát vydavatele

Rakousko

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Organizační jednotka

Přírodovědecká fakulta

Klíčová slova anglicky

p-(ľcSi:H) layers; pin solar cells; ellipsometry; Kelvin probe

Štítky

ellipsometry, Kelvin probe, p-(ľcSi:H) layers, pin solar cells