FRANTA, Daniel a Ivan OHLÍDAL. Ellipsometric parameters and reflectances of thin films with slightly rough boundaries. Journal of modern optics. Londýn: Taylor & Francis Ltd., roč. 45, č. 5, s. 903-934. ISSN 0950-0340. 1998.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název Ellipsometric parameters and reflectances of thin films with slightly rough boundaries
Autoři FRANTA, Daniel (203 Česká republika, garant) a Ivan OHLÍDAL (203 Česká republika).
Vydání Journal of modern optics, Londýn, Taylor & Francis Ltd. 1998, 0950-0340.
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Článek v odborném periodiku
Obor 10306 Optics
Stát vydavatele Velká Británie a Severní Irsko
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
WWW URL
Impakt faktor Impact factor: 1.165
Kód RIV RIV/00216224:14310/98:00003213
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
UT WoS 000073467700003
Změnil Změnil: Mgr. Daniel Franta, Ph.D., učo 2000. Změněno: 19. 12. 2003 19:32.
Anotace
In this theoretical paper formulae for important optical quantities of single layers with slightly randomly rough boundaries are derived by means of a generalized Rayleigh-Rice theory. Thus the formulae for the specular reflectances, ellipsometric parameters and flux of scattered energy of the layers mentioned are presented. The theoretical results are illustrated by a numerical analysis. Practical features implied by this analysis to be relevant from the experimental point of view are introduced as well.
Návaznosti
GA202/98/0988, projekt VaVNázev: Charakterizace vrstevnatých systémů s náhodně drsnými rozhraními pomocí optických a rtg metod
Investor: Grantová agentura ČR, Charakterizace vrstevnatých systémů s náhodně drsnými rozhraními pomocí optických a rtg metod
VytisknoutZobrazeno: 28. 3. 2024 17:35