D 1999

Optical characterization of multilayer systems with randomly rough boundaries

OHLÍDAL, Ivan; František VIŽĎA a Miloslav OHLÍDAL

Základní údaje

Originální název

Optical characterization of multilayer systems with randomly rough boundaries

Autoři

OHLÍDAL, Ivan; František VIŽĎA a Miloslav OHLÍDAL

Vydání

Billingham, Washington, USA, 18th Congress of the International Commision for Optics: Optics for the Next Millennium, s. 150-151, SPIE Volume 3749, 1999

Nakladatel

SPIE - The International Society for Optical Engineering

Další údaje

Jazyk

angličtina

Typ výsledku

Stať ve sborníku

Obor

10302 Condensed matter physics

Stát vydavatele

Spojené státy

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Označené pro přenos do RIV

Ano

Kód RIV

RIV/00216224:14310/99:00003217

Organizační jednotka

Přírodovědecká fakulta

ISBN

0-8194-3234-2

UT WoS

Klíčová slova anglicky

multilayer systems; rough boundaries; coherent reflectance; optical characterization

Štítky

Změněno: 27. 2. 2001 13:00, prof. RNDr. Ivan Ohlídal, DrSc.

Anotace

V originále

In this contribution examples of the optical characterization of multilayer systems with randomly rough boundaries are presented. The method based on measuring and interpreting the spectral dependences of the coherent reflectance is used to determine the values of the optical and statistical parameters of sample of three-layer and thirteen-layer systems exhibiting the rough boundaries. The systems mentioned are formed by thin films of SiO2 and TiO2.

Návaznosti

GA202/98/0988, projekt VaV
Název: Charakterizace vrstevnatých systémů s náhodně drsnými rozhraními pomocí optických a rtg metod
Investor: Grantová agentura ČR, Charakterizace vrstevnatých systémů s náhodně drsnými rozhraními pomocí optických a rtg metod
MO50170896306, projekt VaV