J 2003

Srovnání snímků NSOM a AFM při studiu vybraných objektů

KLAPETEK, Petr a Ivan OHLÍDAL

Základní údaje

Originální název

Srovnání snímků NSOM a AFM při studiu vybraných objektů

Název anglicky

Comparison of NSOM and AFM images of chosen samples

Autoři

KLAPETEK, Petr a Ivan OHLÍDAL

Vydání

Československý časopis pro fyziku, Praha, Fyzikální ústav AV ČR, 2003, 0009-0700

Další údaje

Jazyk

čeština

Typ výsledku

Článek v odborném periodiku

Obor

10302 Condensed matter physics

Stát vydavatele

Česká republika

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Označené pro přenos do RIV

Ano

Kód RIV

RIV/00216224:14310/03:00008191

Organizační jednotka

Přírodovědecká fakulta

Klíčová slova anglicky

NSOM; AFM

Štítky

Změněno: 30. 9. 2003 09:15, Mgr. Petr Klapetek, Ph.D.

Anotace

ORIG EN

V originále

V příspěvku je diskutována problematika defektů snímků optické mikroskopie v blízkém poli vzniklých vlivem topografie povrchů.

Anglicky

In this article artifacts in near-field scanning optical microscopy are shown and their origin due to topography irregularities is demonstrated.

Návaznosti

GA101/01/1104, projekt VaV
Název: Realizace laboratorního vzoru zařízení pro měření drsnosti povrchu metodou holografické interferometrie
Investor: Grantová agentura ČR, Realizace laboratorního vzoru zařízení pro měření drsnosti povrchu metodou holografické interferometrie
GA202/01/1110, projekt VaV
Název: Optické a mechanické vlastnosti tenkých vrstev DLC:Si připravených PECVD metodou
Investor: Grantová agentura ČR, Optické a mechanické vlastnosti tenkých vrstev DLC:Si připravených PECVD metodou