Filtrování

    2008

    1. Near field scanning optical microscopy studies of thin film surfaces and interfaces
      KLAPETEK, Petr a Jiří BURŠÍK. Near field scanning optical microscopy studies of thin film surfaces and interfaces. Applied Surface Science. USA: ELSEVIER (NORTH-HOLLAND), 2008, roč. 254, č. 12, s. 3681-3684. ISSN 0169-4332.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/769966/cs
    2. Near-field scanning optical microscope probe analysis
      KLAPETEK, Petr; Jiří BURŠÍK; Miroslav VALTR a Jan MARTÍNEK. Near-field scanning optical microscope probe analysis. Ultramicroscopy. Amsterdam: Elsevier, 2008, roč. 108, č. 7, s. 671-676. ISSN 0304-3991. Dostupné z: https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2007.10.014.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/767721/cs

    2003

    1. Srovnání snímků NSOM a AFM při studiu vybraných objektů
      KLAPETEK, Petr a Ivan OHLÍDAL. Srovnání snímků NSOM a AFM při studiu vybraných objektů. Československý časopis pro fyziku. Praha: Fyzikální ústav AV ČR, 2003, roč. 47, 6-7s, s. 79-81. ISSN 0009-0700.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/488940/cs
Zobrazit podrobně