J 2008

Near field scanning optical microscopy studies of thin film surfaces and interfaces

KLAPETEK, Petr a Jiří BURŠÍK

Základní údaje

Originální název

Near field scanning optical microscopy studies of thin film surfaces and interfaces

Název česky

Studium rozhraní a povrchů tenkých vrstev pomocí mikroskopie blízkého pole

Autoři

KLAPETEK, Petr a Jiří BURŠÍK

Vydání

Applied Surface Science, USA, ELSEVIER (NORTH-HOLLAND), 2008, 0169-4332

Další údaje

Jazyk

angličtina

Typ výsledku

Článek v odborném periodiku

Obor

10302 Condensed matter physics

Stát vydavatele

Česká republika

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Impakt faktor

Impact factor: 1.576

Kód RIV

RIV/00216224:14310/08:00024781

Organizační jednotka

Přírodovědecká fakulta

UT WoS

000254243900013

Klíčová slova anglicky

NSOM; FDTD; Image artifacts

Štítky

Příznaky

Mezinárodní význam, Recenzováno
Změněno: 4. 7. 2009 18:27, Mgr. Miroslav Valtr, Ph.D.

Anotace

V originále

In this article, the results of the modeling of topography related artifacts appearing in near-field scanning optical microscopy measurements are presented. The results obtained for near-field scanning optical microscope operation in reflection mode with off-axis far field detector position are compared with experimental results. It is shown that the chosen numerical method-Finite Difference in Time Domain method (FDTD) - can be used for efficient modeling of main topography related artifact. It is also seen that the far field detector position can have large influence on the resulting reflection mode optical images.

Návaznosti

FT-TA3/142, projekt VaV
Název: Analýza optických vlastností solárních článků.
Investor: Ministerstvo průmyslu a obchodu ČR, Analýza optických vlastností solárních článků
GA202/05/0607, projekt VaV
Název: Příprava uhlíkových mikro- a nanostruktur plazmovými technologiemi
Investor: Grantová agentura ČR, Příprava uhlíkových mikro- a nanostruktur plazmovými technologiemi