FRANTA, Daniel, Ivan OHLÍDAL, Vilma BURŠÍKOVÁ a Lenka ZAJÍČKOVÁ. Optical properties of diamond-like carbon films containing SiOx. Diamond and Related Materials. Amsterdam: Elsevier, 2003, roč. 12, č. 9, s. 1532-1538. ISSN 0925-9635.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název Optical properties of diamond-like carbon films containing SiOx
Autoři FRANTA, Daniel (203 Česká republika, garant), Ivan OHLÍDAL (203 Česká republika), Vilma BURŠÍKOVÁ (203 Česká republika) a Lenka ZAJÍČKOVÁ (203 Česká republika).
Vydání Diamond and Related Materials, Amsterdam, Elsevier, 2003, 0925-9635.
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Článek v odborném periodiku
Obor 10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele Nizozemské království
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
WWW URL
Impakt faktor Impact factor: 1.867
Kód RIV RIV/00216224:14310/03:00008251
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
UT WoS 000185308900015
Klíčová slova anglicky Ellipsometry; Density of States; Diamond-like carbon; Silicon
Štítky Density of States, Diamond-like Carbon, ellipsometry, Silicon
Příznaky Mezinárodní význam, Recenzováno
Změnil Změnila: doc. Mgr. Lenka Zajíčková, Ph.D., učo 1414. Změněno: 17. 7. 2007 17:57.
Anotace
In this paper the optical properties of amorphous DLC films containing SiOx (DLC:SiOx) prepared by plasma enhanced chemical vapour deposition are studied. For this study a combined optical method based on simultaneous interpretation of experimental data obtained within variable angle spectroscopic ellipsometry and near-normal spectroscopic reflectometry is used. The interpretation of these combined experimental data is performed using a new empirical dispersion model of the optical constants characterizing the films under investigation. This dispersion model is based on parameterizing the density of the electronic states belonging to both the valence and conduction bands. It is shown that there are the strong differences between spectral dependences of the optical constants of the DLC films on the one hand and DLC:SiOx films on the other hand. Further, it is shown that the absorption of the DLC:SiOx films is smaller than the absorption of the pure DLC films in the visible. This is explained by the fact that the density of the pi electrons inside the DLC:SiOx films is lower than the density of these electrons in the pure DLC films. It is also found that the existence of small amounts of the silicon and oxygen impurities contained in the DLC films strongly influence their optical properties.
Návaznosti
GA202/01/1110, projekt VaVNázev: Optické a mechanické vlastnosti tenkých vrstev DLC:Si připravených PECVD metodou
Investor: Grantová agentura ČR, Optické a mechanické vlastnosti tenkých vrstev DLC:Si připravených PECVD metodou
VytisknoutZobrazeno: 10. 5. 2024 01:12