J 2003

Atomic force microscopy characterization of ZnTe epitaxial thin films

KLAPETEK, Petr; Ivan OHLÍDAL; Alberto MONTAIGNE-RAMIL; Alberta BONANNI; David STIFTER et al.

Základní údaje

Originální název

Atomic force microscopy characterization of ZnTe epitaxial thin films

Autoři

KLAPETEK, Petr; Ivan OHLÍDAL; Alberto MONTAIGNE-RAMIL; Alberta BONANNI; David STIFTER a Helmut SITTER

Vydání

Japanese Journal of Applied Physics, Tokyo, Institute of Pure and Applied Physics, 2003, 0021-4922

Další údaje

Jazyk

angličtina

Typ výsledku

Článek v odborném periodiku

Obor

10302 Condensed matter physics

Stát vydavatele

Japonsko

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Impakt faktor

Impact factor: 1.171

Označené pro přenos do RIV

Ano

Kód RIV

RIV/00216224:14310/03:00008287

Organizační jednotka

Přírodovědecká fakulta

UT WoS

Klíčová slova anglicky

ZnTe epitaxial films; AFM analysis; faceted boundaries

Štítky

Změněno: 12. 11. 2003 15:29, Mgr. Petr Klapetek, Ph.D.

Anotace

V originále

In this paper, results concerning atomic force microscopy studies of the upper bounaries of ZnTe epitaxial thin films prepared by molecular beam epitaxy onto gallium arsenide single crystal substrates are presented. It is sohw that the upper boundaries exhibit faceted structure which is described by means of statistical analysis.

Návaznosti

GA101/01/1104, projekt VaV
Název: Realizace laboratorního vzoru zařízení pro měření drsnosti povrchu metodou holografické interferometrie
Investor: Grantová agentura ČR, Realizace laboratorního vzoru zařízení pro měření drsnosti povrchu metodou holografické interferometrie
GA202/01/1110, projekt VaV
Název: Optické a mechanické vlastnosti tenkých vrstev DLC:Si připravených PECVD metodou
Investor: Grantová agentura ČR, Optické a mechanické vlastnosti tenkých vrstev DLC:Si připravených PECVD metodou