Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis
| GOLDSTEIN, Joseph I. Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis. 3rd ed. New York: Kluwer Academic/Plenum publishers, 2003, xix, 689 s. ISBN 0-306-47292-9. |
|
Další formáty:
BibTeX
LaTeX
RIS
|
| Základní údaje | |
|---|---|
| Originální název | Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis |
| Autoři | GOLDSTEIN, Joseph I. |
| Vydání | 3rd ed. New York, xix, 689 s, 2003. |
| Nakladatel | Kluwer Academic/Plenum publishers |
| Další údaje | |
|---|---|
| ISBN | 0-306-47292-9 |
| Změnil | Záznam byl importován z knihovního systému. Změněno: 3. 12. 2009 00:00. |
VytisknoutZobrazeno: 24. 4. 2024 18:32