GOLDSTEIN, Joseph I. Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis. 3rd ed. New York: Kluwer Academic/Plenum publishers, 2003. xix, 689 s. ISBN 0-306-47292-9.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis
Autoři GOLDSTEIN, Joseph I.
Vydání 3rd ed. New York, xix, 689 s, 2003.
Nakladatel Kluwer Academic/Plenum publishers
Další údaje
ISBN 0-306-47292-9
Změnil Záznam byl importován z knihovního systému. Změněno: 3. 12. 2009 00:00.
VytisknoutZobrazeno: 12. 8. 2020 04:05