FRANTA, Daniel, Ivan OHLÍDAL, Petr KLAPETEK, Alberto MONTAIGNE-RAMIL, Alberta BONANNI, David STIFTER a Helmut SITTER. Optical properties of ZnTe films prepared by molecular beam epitaxy. Thin Solid Films. Oxford, UK: Elsevier, 2004, roč. 468, 1-2, s. 193-202. ISSN 0040-6090.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název Optical properties of ZnTe films prepared by molecular beam epitaxy
Název česky Optické vlastnosti vrstev ZnTe připravených molekulovou svazkovou epitaxií
Autoři FRANTA, Daniel (203 Česká republika, garant), Ivan OHLÍDAL (203 Česká republika), Petr KLAPETEK (203 Česká republika), Alberto MONTAIGNE-RAMIL (192 Kuba), Alberta BONANNI (380 Itálie), David STIFTER (40 Rakousko) a Helmut SITTER (40 Rakousko).
Vydání Thin Solid Films, Oxford, UK, Elsevier, 2004, 0040-6090.
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Článek v odborném periodiku
Obor 10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele Velká Británie a Severní Irsko
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
WWW URL
Impakt faktor Impact factor: 1.647
Kód RIV RIV/00216224:14310/04:00010693
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
UT WoS 000224474500031
Klíčová slova anglicky THIN-FILMS; ROUGH BOUNDARIES; SUBSTRATE; GAAS; DEPENDENCE; CONSTANTS
Štítky CONSTANTS, dependence, GAAS, rough boundaries, SUBSTRATE, THIN-FILMS
Změnil Změnil: Mgr. Daniel Franta, Ph.D., učo 2000. Změněno: 3. 2. 2006 17:59.
Anotace
In this paper, the optical properties of ZnTe epitaxial thin films prepared by molecular beam epitaxy (MBE) onto GaAs single crystal substrates are studied using the combined optical method employing a simultaneous interpretation of experimental data obtained by means of variable angle spectroscopic ellipsometry (VASE) and near-normal spectroscopic rellectometry (NNSR). The spectral dependences of both the optical constants, i.e. the refractive index and extinction coefficient, characterizing these films are presented within the spectral region 230-850 nm. It is shown that the optical properties of the ZnTe epitaxial films depend on the values of their thickness. This conclusion was found using the model of the optical constants exhibiting a profile across these films. A roughness of the upper boundaries of the ZnTe films and the existence of a very thin native oxide layer (NOL) on these boundaries are taken into account within the optical analysis.
Anotace česky
V článku jsou studovány optické vlastnosti epitaxních vrstev ZnTe připravených molekulovou svazkovou epitaxií na podložky tvořené monokrystalem GaAs pomocí kombinované optické metody využívající současnou interpretaci experimentálních dat obdržených víceúhlovou spektroskopickou elipsometrií a spektroskopickou reflektometrií. Spektrální závislosti obou optických konstant, tj. indexu lomu a extinkčního koeficientu, charakterizující tyto vrstvy jsou uvedeny ve spektrálním intervalu 230-850 nm. Ukázali jsme, že optické vlastnosti vrstev ZnTe závisí na hodnotě jejich tloušťky. Tento závěr byl nalezen pomocí modelu optických konstant vykazujících profil napříč vrstvami. Drsnost horních rozhraní ZnTe vrstev a existence velmi tenkých přirozených oxidových vrstev na těchto rozhraních jsou brány rovněž v úvahu při provedené optické analýze studovaných vrstev.
Návaznosti
GA202/01/1110, projekt VaVNázev: Optické a mechanické vlastnosti tenkých vrstev DLC:Si připravených PECVD metodou
Investor: Grantová agentura ČR, Optické a mechanické vlastnosti tenkých vrstev DLC:Si připravených PECVD metodou
MSM 143100003, záměrNázev: Studium plazmochemických reakcí v neizotermickém nízkoteplotním plazmatu a jeho interakcí s povrchem pevných látek
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Studium plazmochemických reakcí v neizotermickém nízkoteplotním plazmatu a jeho interakcí s povrchem pevných látek
VytisknoutZobrazeno: 27. 4. 2024 06:36