J 2003

Oriented organic semiconductor thin films

ANDREEV, A.; R. RESEL; M.D. SMILGIES; H. HOPPE; G. MATT et. al.

Základní údaje

Originální název

Oriented organic semiconductor thin films

Název česky

Orientované organické tenké vrstvy

Autoři

ANDREEV, A.; R. RESEL; M.D. SMILGIES; H. HOPPE; G. MATT; H. SITTER; N. S. SARICIFTCI; D. MEISSNER; H. PLANK a O. ZRZAVECKA

Vydání

Synthetic Metals, Elsevier, 2003, 0379-6779

Další údaje

Jazyk

angličtina

Typ výsledku

Článek v odborném periodiku

Obor

10302 Condensed matter physics

Stát vydavatele

Francie

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Impakt faktor

Impact factor: 1.303

Organizační jednotka

Přírodovědecká fakulta

UT WoS

000183479200011

Klíčová slova anglicky

Organic epitaxy; Crystalline thin films; Atomic force microscopy; X-ray diffraction

Štítky

Změněno: 14. 2. 2005 15:30, Mgr. Olga Fikarová Zrzavecká

Anotace

ORIG CZ

V originále

In this part of our investigations, we mainly use atomic force microscopy to study the growth of para-sexiphenyl (PSP) films on mica. It is shown that self-organization of PSP molecules occurs during the deposition controlled by the substrate temperature and deposition time. In addition, X-ray diffraction (XRD) measurements were performed using synchrotron radiation. They confirmed the very high crystalline quality of the grown films.

Česky

V této části našeho výzkumu jsme použili ke studiu růstu para-sexiphenylu na slídě především mikroskopii atomove síly (AFM). Ukázalo se samouspořádávání molekul PSP během depozice kontrolované teplotou substrátu a dobou depozice. Dále byla provedena měření rtg difrakce (XRD)s užitím synchrotronového zdroje. Ta potvrdila vysokou kvalitu krystalických vrstev.