KLAPETEK, Petr, Ivan OHLÍDAL a Jindřich BÍLEK. Influence of the atomic force microscope tip on the multifractal analysis of rough surfaces. Ultramicroscopy. Amsterdam: Elsevier, 2004, roč. 102, č. 1, s. 51-59. ISSN 0304-3991.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název Influence of the atomic force microscope tip on the multifractal analysis of rough surfaces
Název česky Vliv
Autoři KLAPETEK, Petr (203 Česká republika), Ivan OHLÍDAL (203 Česká republika, garant) a Jindřich BÍLEK (203 Česká republika).
Vydání Ultramicroscopy, Amsterdam, Elsevier, 2004, 0304-3991.
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Článek v odborném periodiku
Obor 10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele Nizozemské království
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
Impakt faktor Impact factor: 2.215
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
UT WoS 000225516200007
Klíčová slova anglicky Roughness; AFM
Štítky AFM, Roughness
Změnil Změnil: prof. RNDr. Ivan Ohlídal, DrSc., učo 2397. Změněno: 15. 8. 2005 18:25.
Anotace
In this paper ...
Anotace česky
V tomto článku ...
Návaznosti
GA101/01/1104, projekt VaVNázev: Realizace laboratorního vzoru zařízení pro měření drsnosti povrchu metodou holografické interferometrie
Investor: Grantová agentura ČR, Realizace laboratorního vzoru zařízení pro měření drsnosti povrchu metodou holografické interferometrie
GA202/01/1110, projekt VaVNázev: Optické a mechanické vlastnosti tenkých vrstev DLC:Si připravených PECVD metodou
Investor: Grantová agentura ČR, Optické a mechanické vlastnosti tenkých vrstev DLC:Si připravených PECVD metodou
VytisknoutZobrazeno: 19. 9. 2024 18:36