Influence of the atomic force microscope tip on the multifractal analysis of rough surfaces

KLAPETEK, Petr; Ivan OHLÍDAL a Jindřich BÍLEK. Influence of the atomic force microscope tip on the multifractal analysis of rough surfaces. Ultramicroscopy. Amsterdam: Elsevier, 2004, roč. 102, č. 1, s. 51-59. ISSN 0304-3991.

Základní údaje

Originální název

Influence of the atomic force microscope tip on the multifractal analysis of rough surfaces

Název česky

Vliv

Autoři

KLAPETEK, Petr (203 Česká republika); Ivan OHLÍDAL (203 Česká republika, garant) a Jindřich BÍLEK (203 Česká republika)

Vydání

Ultramicroscopy, Amsterdam, Elsevier, 2004, 0304-3991

---

Další údaje

Jazyk

angličtina

Typ výsledku

Článek v odborném periodiku

Obor

10302 Condensed matter physics

Stát vydavatele

Nizozemské království

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Impakt faktor

Impact factor: 2.215

Organizační jednotka

Přírodovědecká fakulta

UT WoS

000225516200007

Klíčová slova anglicky

Roughness; AFM

Štítky

AFM, Roughness

---

Anotace

V originále

In this paper ...

Česky

V tomto článku ...

---

Návaznosti

GA101/01/1104, projekt VaV	Název: Realizace laboratorního vzoru zařízení pro měření drsnosti povrchu metodou holografické interferometrie Investor: Grantová agentura ČR, Realizace laboratorního vzoru zařízení pro měření drsnosti povrchu metodou holografické interferometrie
GA202/01/1110, projekt VaV	Název: Optické a mechanické vlastnosti tenkých vrstev DLC:Si připravených PECVD metodou Investor: Grantová agentura ČR, Optické a mechanické vlastnosti tenkých vrstev DLC:Si připravených PECVD metodou