2005
Analytical electron microscopy of plasma deposited carbon nanostructures
BURŠÍK, Jiří; Marek ELIÁŠ; Ondřej JAŠEK; Vít KUDRLE; Martin BUBLAN et al.Základní údaje
Originální název
Analytical electron microscopy of plasma deposited carbon nanostructures
Název česky
Analýza uhlíkovým nanostruktur připravných v plazmatu elektronovou mikroskopií
Autoři
Vydání
1. vyd. Portiroz, Proceedings of 7th Multinational Congress on Microscopy, od s. 321-322, 2 s. 2005
Nakladatel
Jožef Stefan Institute
Další údaje
Jazyk
angličtina
Typ výsledku
Stať ve sborníku
Obor
10305 Fluids and plasma physics
Stát vydavatele
Slovinsko
Utajení
není předmětem státního či obchodního tajemství
Označené pro přenos do RIV
Ano
Kód RIV
RIV/00216224:14310/05:00012991
Organizační jednotka
Přírodovědecká fakulta
ISBN
961-6303
Klíčová slova anglicky
electron microscopy; carbon nanostructures; plasma
Příznaky
Mezinárodní význam
Změněno: 5. 1. 2007 12:49, prof. Mgr. Vít Kudrle, Ph.D.
V originále
Carbon nanostructures studied in this work were prepared by two methods. In both cases they were grown on Si substrates with Fe catalysts. As a first method, microwave plasma torch at atmospheric pressure was used, in second case CNTs were grown employing an inductively coupled plasma chemical vapor deposition (ICP-PVD). For microstructural studies, a Jeol JSM 6460 scanning electron microscope (SEM) with an Oxford Instruments INCA Energy analyser (EDX) and a Philips CM12 STEM transmission electron microscope (TEM) with an EDAX analyser were used.
Česky
Studované uhlíkové nanostruktury byly připraveny na substrátech Si s tenkou vrstvou katalyzátoru Fe dvěma PECVD metodami. V prvním případě šlo o mikrovlnný výboj za atmosférického tlaku v druhém pak induktivně vázaný vysokofrekvenční výboj. Ke studiu mikrostruktury byl použit skenovací elektronový mikroskop Jeol 6460 s EDX analyzátorem INCA a transmisní elektronový mikroskop Philips CM12 s EDAX analyzátorem.
Návaznosti
| GA202/05/0607, projekt VaV |
| ||
| MSM 143100003, záměr |
|