J 2006

1.3 mum emission from InAs/GaAs quantum dots

KULDOVÁ, Karla; Vlastimil KŘÁPEK; Alice HOSPODKOVÁ; Jiří OSWALD; Jiří PANGRÁC et al.

Základní údaje

Originální název

1.3 mum emission from InAs/GaAs quantum dots

Název česky

Emise na 1.3 mikrometru z InAs/GaAs kvantových teček

Autoři

KULDOVÁ, Karla; Vlastimil KŘÁPEK; Alice HOSPODKOVÁ; Jiří OSWALD; Jiří PANGRÁC; Karel MELICHAR; Eduard HULICIUS; Marek POTEMSKI a Josef HUMLÍČEK

Vydání

physica status solidi (c), Weinheim, WILEY-VCH Verlag GmbH, 2006, 1610-1642

Další údaje

Jazyk

angličtina

Typ výsledku

Článek v odborném periodiku

Obor

10302 Condensed matter physics

Stát vydavatele

Nizozemské království

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Označené pro přenos do RIV

Ano

Kód RIV

RIV/00216224:14310/06:00018456

Organizační jednotka

Přírodovědecká fakulta

Klíčová slova anglicky

quantum dots; InAs/GaAs; magnetophotoluminescence

Příznaky

Mezinárodní význam, Recenzováno
Změněno: 9. 4. 2010 15:48, prof. RNDr. Josef Humlíček, CSc.

Anotace

V originále

We report here the results of our photoluminescence study of a series of single quantum dot layer structures containing InxGa1–xAs strain reducing layers with different In concentration (from 0 % to 29 %), prepared by low pressure metal organic vapour phase epitaxy. These structures display a strong red shift of photoluminescence maxima from 1.25 mum to 1.45 mum at 300 K with increased In content in the ternary layer. The origin of the observed transitions has been explained using magnetophotoluminescence measurements and photoluminescence measurements for different pumping intensities at low temperature. Optical transition energies were calculated using a simple single-band effective mass model with energydependent effective mass. Comparing the calculated and measured energies, we can determine the thickness of the wetting layer and the sizes of the dots.

Česky

We report here the results of our photoluminescence study of a series of single quantum dot layer structures containing InxGa1–xAs strain reducing layers with different In concentration (from 0 % to 29 %), prepared by low pressure metal organic vapour phase epitaxy. These structures display a strong red shift of photoluminescence maxima from 1.25 mum to 1.45 mum at 300 K with increased In content in the ternary layer. The origin of the observed transitions has been explained using magnetophotoluminescence measurements and photoluminescence measurements for different pumping intensities at low temperature. Optical transition energies were calculated using a simple single-band effective mass model with energydependent effective mass. Comparing the calculated and measured energies, we can determine the thickness of the wetting layer and the sizes of the dots.

Návaznosti

GA202/06/0718, projekt VaV
Název: Inženýrství kvantových teček
Investor: Grantová agentura ČR, Inženýrství kvantových teček
KJB101630601, projekt VaV
Název: Morfologie kvantových teček a její vliv na elektronovou strukturu
Investor: Akademie věd ČR, Morfologie kvantových teček a její vliv na elektronovou strukturu
MSM0021622410, záměr
Název: Fyzikální a chemické vlastnosti pokročilých materiálů a struktur
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Fyzikální a chemické vlastnosti pokročilých materiálů a struktur