2006
In-situ investigations of Si and Ge interdiffusion in Si cascade structures
MEDUŇA, Mojmír; Jiří NOVÁK; Václav HOLÝ; Günther BAUER; Claudiu FALUB et. al.Základní údaje
Originální název
In-situ investigations of Si and Ge interdiffusion in Si cascade structures
Název česky
In-situ studie Si a Ge interdifuse v Si kaskádových strukturách
Autoři
MEDUŇA, Mojmír; Jiří NOVÁK; Václav HOLÝ; Günther BAUER; Claudiu FALUB; Soichiro TSUJINO a Detlev GRÜTZMACHER
Vydání
Synchrotron Radiation in Natural Sciences, Warsaw, Polish Synchrotron Radiation Society, 2006, 1644-7190
Další údaje
Jazyk
angličtina
Typ výsledku
Článek v odborném periodiku
Obor
10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele
Polsko
Utajení
není předmětem státního či obchodního tajemství
Kód RIV
RIV/00216224:14310/06:00016352
Organizační jednotka
Přírodovědecká fakulta
Klíčová slova anglicky
x-ray reflectivity; multilayers; interdiffusion; SiGe
Štítky
Příznaky
Mezinárodní význam
Změněno: 24. 1. 2007 14:21, Mgr. Mojmír Meduňa, Ph.D.
V originále
We focus on investigation of temperature stability of simple strain symmetrized SiGe/Si multilayers designed similarly as the complicated quantum cascade structures with Ge content 30% and 80%. X-ray reflectivity and diffraction reciprocal space maps for all structures have been recorded at room temperature and during several isothermal annealing processes for temperatures ranging from 550 C up to 824 C.
Česky
Zaměřujeme se na studium teplotní stabitlity jednoduchých deformačně symetrizovaných SiGe/Si multivrstev navrhnutých podobně tak jako komplikované kvantově kaskádové struktury s obsahem Ge 30% a 80%. Reciproké mapy rtg reflexe a difrakce všech struktur byly zaznamenány při pokojové teplotě a během isotermického žíhání pro teploty v rozsahu od 550 C do 824 C.
Návaznosti
| GP202/05/P286, projekt VaV |
| ||
| MSM0021622410, záměr |
|