2007
Frequency- and temperature-dependent conductivity at the metal-insulator transition in phosphorus doped silicon studied by far-infrared ellipsometry
HUMLÍČEK, Josef, Adam DUBROKA, Přemysl MARŠÍK, Dominik MUNZAR, A.V. BORIS et. al.Základní údaje
Originální název
Frequency- and temperature-dependent conductivity at the metal-insulator transition in phosphorus doped silicon studied by far-infrared ellipsometry
Název česky
Frekvenčně a teplotně závislá vodivost na přechodu kov-izolátor v bórem legovaném křemíku studovaná elipsometrií v daleké infračervené oblasti
Autoři
HUMLÍČEK, Josef (203 Česká republika, garant, domácí), Adam DUBROKA (203 Česká republika), Přemysl MARŠÍK (203 Česká republika, domácí), Dominik MUNZAR (203 Česká republika, domácí), A.V. BORIS (643 Rusko) a Christian BERNHARD (276 Německo)
Vydání
USA, CP893, Physics of Semiconductors, 28th International Conference, od s. 33-34, 2 s. 2007
Nakladatel
American Institute of Physics
Další údaje
Jazyk
angličtina
Typ výsledku
Stať ve sborníku
Obor
10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele
Spojené státy
Utajení
není předmětem státního či obchodního tajemství
Kód RIV
RIV/00216224:14310/07:00025614
Organizační jednotka
Přírodovědecká fakulta
ISBN
978-0-7354-0397-0
UT WoS
000246281800016
Klíčová slova anglicky
metal-insulator transition; doped silicon; ellipsometry
Příznaky
Mezinárodní význam, Recenzováno
Změněno: 7. 9. 2011 12:10, doc. Mgr. Adam Dubroka, Ph.D.
V originále
We report on far-infrared ellipsometric measurements of Si:P with the phosphorus concentration at the metal-insulator (MI) transition, for temperatures from 15 to 300 K in the 50-600 cm-1 spectral range. Temperature coefficients of the complex conductivity have been measured with high resolution; they reveal a nontrivial evolution of the optical response.
Česky
Referujeme o elipsometrických měřeních v daleké infračervené oblasti na Si:P s koncentrací fosforu na přechodu kov-izolátor, v teplotním oboru od 15 do 300 K. Teplotní koeficienty komplexní vodivosti byly změřeny s vysokým rozlišením; ukazují netriviální vývoj optické odezvy.
Návaznosti
| MSM0021622410, záměr |
|