VALTR, Miroslav, Petr KLAPETEK, Ivan OHLÍDAL a Václav DUCHOŇ. Study of thickness reduction of a-C:H thin film under UV light irradiation. In Proceedings of ICPIG XXVIII Conference. Prague: Institute of Plasma Physics AS CR, 2007, s. 761-764. ISBN 978-80-87026-01-4.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název Study of thickness reduction of a-C:H thin film under UV light irradiation
Název česky Studium redukce tlouštky amorfní uhlíkové tenké vrstvy vlivem UV záření
Autoři VALTR, Miroslav (203 Česká republika, garant), Petr KLAPETEK (203 Česká republika), Ivan OHLÍDAL (203 Česká republika) a Václav DUCHOŇ (203 Česká republika).
Vydání Prague, Proceedings of ICPIG XXVIII Conference, od s. 761-764, 4 s. 2007.
Nakladatel Institute of Plasma Physics AS CR
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Stať ve sborníku
Obor 10305 Fluids and plasma physics
Stát vydavatele Česká republika
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
Kód RIV RIV/00216224:14310/07:00019457
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
ISBN 978-80-87026-01-4
Klíčová slova anglicky Carbon; Oxidation; Optical Properties
Štítky Carbon, Optical properties, oxidation
Příznaky Mezinárodní význam, Recenzováno
Změnil Změnil: Mgr. Miroslav Valtr, Ph.D., učo 13715. Změněno: 10. 1. 2010 17:35.
Anotace
In this paper we present a study of thickness reduction of an amorphous hydrocarbon (a-C:H) thin film under UV light irradiation. Optical parameters of the film are examined by means of spectroscopic ellipsometry and area reflectance measurement. We observed a linear dependence in thickness reduction. The reduction velocity is 10.1 nm/h in this region. However, if the thickness of the film was less then approx. 14 nm, the reduction velocity decreases subsequently. Area reflectance measurement consisting in taking reflectance spectra in many points lying along the area of the sample is used to create a map with thickness distribution along this area. This method is very sensitive to small thickness variations.
Anotace česky
V příspěvku je prezentováno studium redukce tlouštky amorfní uhlíkové tenké vrstvy vlivem UV záření. Optické parametry vrstvy jsou určovány pomocí spektroskopické elipsometrie a plošného měření reflektance. Byla pozorována lineární závislost v poklesu tlouštky vrstvy. Rychlost je poklesu 10,1 nm/h. Avšak pokud byla tlouštka vrstvy menší než cca 14 nm, rychlost poklesu tlouštky vrstvy se postupně zmenšovala. Měření plošné reflektance, spočívající v naměření odrazivosti v mnoha bodech na povrchu vzorku, se využilo ke stanovení rozložení tlouštky. Tato metoda je velmi citlivá k malým změnám tlouštky.
Návaznosti
KAN311610701, projekt VaVNázev: Nanometrologie využívající metod rastrovací sondové mikroskopie
Investor: Akademie věd ČR, Nanometrologie využívající metod rastrovací sondové mikroskopie
VytisknoutZobrazeno: 14. 5. 2024 10:39