JAŠEK, Ondřej, Oldřich SCHNEEWEISS, Bohumil DAVID, Lenka ZAJÍČKOVÁ a Martin VONDRÁČEK. Study of nanocrystalline iron phases on Si-SiO2/Fe MWCNT Samples. In Abstract Booklet of International Conference NANO 07. 1. vyd. Brno: VUT Brno. s. 65-65. ISBN 978-80-214-3460-8. 2007.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název Study of nanocrystalline iron phases on Si-SiO2/Fe MWCNT Samples
Název česky Studium nanokrystalických fází železa uhlíkových nanotrubek na Si-SiO2/Fe substrátech
Autoři JAŠEK, Ondřej, Oldřich SCHNEEWEISS, Bohumil DAVID, Lenka ZAJÍČKOVÁ a Martin VONDRÁČEK.
Vydání 1. vyd. Brno, Abstract Booklet of International Conference NANO 07, od s. 65-65, 1 s. 2007.
Nakladatel VUT Brno
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Stať ve sborníku
Obor 10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele Česká republika
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
ISBN 978-80-214-3460-8
Klíčová slova anglicky Multiwall Carbon Nanotubes; XPS; Conversion Electron Mössbauer Spectroscopy; Iron Carbides
Štítky Conversion Electron Mössbauer Spectroscopy, Iron Carbides, Multiwall Carbon Nanotubes, XPS
Příznaky Mezinárodní význam
Změnil Změnila: Ing. Zdeňka Rašková, učo 140529. Změněno: 10. 4. 2012 11:47.
Anotace
MWCNTs were deposited on silicon substrates with or without 200 nm thick SiO2 layer. This layer was prepared by PECVD using capacitive coupled r.f. glow discharge from the 8% hexamethyl-disiloxane in oxygen. The coated substrate was subsequently annealed in vacuum at 970 K for 30 min. Iron catalyst thin film (10 nm) was vacuum evaporated on the top of the silicon oxide. Natural iron was used for standard samples and iron enriched to 90% by 57Fe isotope for the samples used for measurements of Mössbauer spectra. X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) was used for the investigations of sample surfaces using Al x-ray tube and synchrotron radiation for measurement of Si 2p and Fe 2p spectra. They yielded information from the surface layer approx. 1 nm in depth. Conversion electron Mössbauer spectroscopy on 57Fe (CEMS) was applied for investigation of iron containing phases in the surface layer approx. 200 nm thick.
Anotace česky
Uhlíkové nanotrubky byly deponovány na křemíkovém substrátu s nebo bez difúzní bariéry SiO2. Tato vrstva byla připravena metodou PECVD ve vysokofrekvečním kapacitně vázaném výboji z 8 procentní směsi hexametyldisiloxanu v kyslíku. PO depozici byla vrstva vyhřána na 970 K po dobu 30 minut. Vrstva katalyzátoru Fe od tloušťce 10 nm byla na tako připravený substrát nanesena vakuovým napařováním. Běžné železo bylo použito jako standard a za účelem měření Mössbauerovi spektroskopie bylo použito vzorku s 90 procentním obsahem izotopu 57Fe. Metodou XPS byl analyzován povrch vzorku do hloubky přibližně 1 nm za použití Al rengenové trubice a synchrotronového záření s analýzou spekter Si 2p a Fe 2p. Analýza CEMS na vzorcích s obsahem 57Fe byla zaměřena na fáze železa obsažené ve vrstvě o tloušťce přibližně 200 nm.
VytisknoutZobrazeno: 28. 3. 2024 11:53