Filtrování

    2007

    1. Study of nanocrystalline iron phases on Si-SiO2/Fe MWCNT Samples
      JAŠEK, Ondřej; Oldřich SCHNEEWEISS; Bohumil DAVID; Lenka ZAJÍČKOVÁ a Martin VONDRÁČEK. Study of nanocrystalline iron phases on Si-SiO2/Fe MWCNT Samples. In Abstract Booklet of International Conference NANO 07. 1. vyd. Brno: VUT Brno, 2007, s. 65-65. ISBN 978-80-214-3460-8.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/747205/cs

    2004

    1. In situ analysis of PMPSi by spectroscopic ellipsometry and XPS
      ČECHAL, Jan; Petr TICHOPÁDEK; Alois NEBOJSA; Olga BONAVENTUROVÁ ZRZAVECKÁ; Michal URBÁNEK; Jiří SPOUSTA; Karel NAVRÁTIL a Tomáš ŠIKOLA. In situ analysis of PMPSi by spectroscopic ellipsometry and XPS. Surface and Interface Analysis. USA: John Wiley & Sons, 2004, roč. 2004, č. 36, s. 1218-1221. ISSN 0142-2421.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/559741/cs

    2003

    1. Surface properties of polyethylene after low-temperature plasma treatment
      DRNOVSKÁ, Hana; Lubomír LAPČÍK; Vilma BURŠÍKOVÁ; Jozef ZEMEK a Ana M. BARROS-TIMMONS. Surface properties of polyethylene after low-temperature plasma treatment. COLLOID AND POLYMER SCIENCE. 2003, roč. 2003, č. 281, s. 1025-1033, 8 s. ISSN 0303-402X.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/490358/cs

    2001

    1. XPS and Ellipsometric Study of DLC/Silicon Interface
      ZAJÍČKOVÁ, Lenka; Kateřina VELTRUSKÁ; Nataliya TSUD a Daniel FRANTA. XPS and Ellipsometric Study of DLC/Silicon Interface. Vacuum. USA: ELSEVIER (PERGAMON), 2001, roč. 61, 2-4, s. 269-273. ISSN 0042-207X.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/366095/cs
Zobrazit podrobně