Study of nanocrystalline iron phases on Si-SiO2/Fe MWCNT Samples

JAŠEK, Ondřej, Oldřich SCHNEEWEISS, Bohumil DAVID, Lenka ZAJÍČKOVÁ a Martin VONDRÁČEK. Study of nanocrystalline iron phases on Si-SiO2/Fe MWCNT Samples. In Abstract Booklet of International Conference NANO 07. 1. vyd. Brno: VUT Brno, 2007, s. 65-65. ISBN 978-80-214-3460-8.

Základní údaje

Originální název

Study of nanocrystalline iron phases on Si-SiO2/Fe MWCNT Samples

Název česky

Studium nanokrystalických fází železa uhlíkových nanotrubek na Si-SiO2/Fe substrátech

Autoři

JAŠEK, Ondřej, Oldřich SCHNEEWEISS, Bohumil DAVID, Lenka ZAJÍČKOVÁ a Martin VONDRÁČEK

Vydání

1. vyd. Brno, Abstract Booklet of International Conference NANO 07, od s. 65-65, 1 s. 2007

Nakladatel

VUT Brno

---

Další údaje

Jazyk

angličtina

Typ výsledku

Stať ve sborníku

Obor

10302 Condensed matter physics

Stát vydavatele

Česká republika

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Organizační jednotka

Přírodovědecká fakulta

ISBN

978-80-214-3460-8

Klíčová slova anglicky

Multiwall Carbon Nanotubes; XPS; Conversion Electron Mössbauer Spectroscopy; Iron Carbides

Štítky

Conversion Electron Mössbauer Spectroscopy, Iron Carbides, Multiwall Carbon Nanotubes, XPS

Příznaky

Mezinárodní význam

---

Anotace

V originále

MWCNTs were deposited on silicon substrates with or without 200 nm thick SiO2 layer. This layer was prepared by PECVD using capacitive coupled r.f. glow discharge from the 8% hexamethyl-disiloxane in oxygen. The coated substrate was subsequently annealed in vacuum at 970 K for 30 min. Iron catalyst thin film (10 nm) was vacuum evaporated on the top of the silicon oxide. Natural iron was used for standard samples and iron enriched to 90% by 57Fe isotope for the samples used for measurements of Mössbauer spectra. X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) was used for the investigations of sample surfaces using Al x-ray tube and synchrotron radiation for measurement of Si 2p and Fe 2p spectra. They yielded information from the surface layer approx. 1 nm in depth. Conversion electron Mössbauer spectroscopy on 57Fe (CEMS) was applied for investigation of iron containing phases in the surface layer approx. 200 nm thick.

Česky

Uhlíkové nanotrubky byly deponovány na křemíkovém substrátu s nebo bez difúzní bariéry SiO2. Tato vrstva byla připravena metodou PECVD ve vysokofrekvečním kapacitně vázaném výboji z 8 procentní směsi hexametyldisiloxanu v kyslíku. PO depozici byla vrstva vyhřána na 970 K po dobu 30 minut. Vrstva katalyzátoru Fe od tloušťce 10 nm byla na tako připravený substrát nanesena vakuovým napařováním. Běžné železo bylo použito jako standard a za účelem měření Mössbauerovi spektroskopie bylo použito vzorku s 90 procentním obsahem izotopu 57Fe. Metodou XPS byl analyzován povrch vzorku do hloubky přibližně 1 nm za použití Al rengenové trubice a synchrotronového záření s analýzou spekter Si 2p a Fe 2p. Analýza CEMS na vzorcích s obsahem 57Fe byla zaměřena na fáze železa obsažené ve vrstvě o tloušťce přibližně 200 nm.