2007
Laser Ablation Time-of-Flight Mass Spectrometry LA-TOF-MS of Nitrogen Doped Diamond-Like Carbon DLN Nano-Layers
HAVEL, Josef; Vilma BURŠÍKOVÁ; Pavel ŘEHULKA; Josef CHMELÍK; Milan ALBERTI et al.Základní údaje
Originální název
Laser Ablation Time-of-Flight Mass Spectrometry LA-TOF-MS of Nitrogen Doped Diamond-Like Carbon DLN Nano-Layers
Název česky
Laserová ablační TOF hmotnostní spektrometrie dusíkem dopovaných diamantu podobných uhlíkových nanovrstev
Autoři
HAVEL, Josef; Vilma BURŠÍKOVÁ; Pavel ŘEHULKA; Josef CHMELÍK; Milan ALBERTI; Zbyněk ŠPALT a Jan JANČA
Vydání
Journal of Physics and Chemistry of Solids, UK, Elsevier, 2007, 0022-3697
Další údaje
Jazyk
angličtina
Typ výsledku
Článek v odborném periodiku
Obor
10305 Fluids and plasma physics
Stát vydavatele
Velká Británie a Severní Irsko
Utajení
není předmětem státního či obchodního tajemství
Odkazy
Impakt faktor
Impact factor: 0.899
Označené pro přenos do RIV
Ano
Kód RIV
RIV/00216224:14310/07:00023791
Organizační jednotka
Přírodovědecká fakulta
UT WoS
Klíčová slova anglicky
Diamond like thin films; Amorphous materials; Vapor deposition
Příznaky
Mezinárodní význam, Recenzováno
Změněno: 8. 2. 2008 17:52, doc. RNDr. Vilma Buršíková, Ph.D.
V originále
Nitrogen-doped diamond-like carbon layers (a-C:H:N, N-DLC or DLN) were prepared by the plasma enhanced chemical vapor deposition (PECVD) technique.The films, of differing deposition times,were subjected to laser ablation time-of-flight (LA-TOF) mass spectrometric measurements.The analysis of mass spectra was made and the following positively singly-charged species were detected and identified: Cn+ (n = 4 - 30), Sin+ (n = 2, 3),SinH+ (n = 2, 3), SiOK+, Si3H4+, Si2N+, Si2NH2+, and Si3C+.
Česky
DLC a DLN vrstvy byly připraveny technikou PECVD a analyzovány pomocí LA-TOF hmotnostní spektroskopie. Touto metodou byly detekovány různé spécie, např. o složení Cn+ (n = 4 - 30), Sin+ (n = 2, 3),SinH+ (n = 2, 3), SiOK+, Si3H4+, Si2N+, Si2NH2+, and Si3C+.
Návaznosti
| MSM0021622411, záměr |
|