J 2008

Optical characterization of diamond-like carbon thin films non-uniform in thickness using spectroscopic reflectometry

OHLÍDAL, Ivan; David NEČAS; Vilma BURŠÍKOVÁ; Daniel FRANTA; Miloslav OHLÍDAL et. al.

Základní údaje

Originální název

Optical characterization of diamond-like carbon thin films non-uniform in thickness using spectroscopic reflectometry

Název česky

Optická charakterizace diamantu podobných tenkých vrstev neuniformních v tloušťce za pomocí spektroskopické reflektometrie

Autoři

OHLÍDAL, Ivan; David NEČAS; Vilma BURŠÍKOVÁ; Daniel FRANTA a Miloslav OHLÍDAL

Vydání

Diamond and Related Materials, New York, Elsevier, 2008, 0925-9635

Další údaje

Jazyk

angličtina

Typ výsledku

Článek v odborném periodiku

Obor

10302 Condensed matter physics

Stát vydavatele

Spojené státy

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Impakt faktor

Impact factor: 2.092

Kód RIV

RIV/00216224:14310/08:00025137

Organizační jednotka

Přírodovědecká fakulta

UT WoS

000256643300066

Klíčová slova anglicky

Diamon-like carbon films; Non-uniformity in thickness; Material parameters; Optical constants
Změněno: 3. 7. 2009 09:44, Mgr. Daniel Franta, Ph.D.

Anotace

V originále

Two formulae expressing the reflectance of non-uniform thin films are presented. The first of them corresponds to the arbitrary shapes of this non-uniformity and illuminated light spot under assumption that this non-uniformity is sufficiently slight. The second formula corresponds to the wedge-shaped non-uniformity of arbitrary magnitude within the circular light spot. It is shown that both the formulae are suitable for the successful optical characterization of non-uniform diamond-like carbon (DLC) thin films in contrast to the usually used reflectance formula for the uniform thin films. Within the optical characterization the values of the standard deviation of non-uniformity is determined together with the correct values of the mean thickness and material parameters corresponding to the dispersion model based on the parameterization of the density of electronic states. On the basis of the material parameters determined the correct spectral dependences of the optical constants of the DLC films studied are calculated.

Česky

Two formulae expressing the reflectance of non-uniform thin films are presented. The first of them corresponds to the arbitrary shapes of this non-uniformity and illuminated light spot under assumption that this non-uniformity is sufficiently slight. The second formula corresponds to the wedge-shaped non-uniformity of arbitrary magnitude within the circular light spot. It is shown that both the formulae are suitable for the successful optical characterization of non-uniform diamond-like carbon (DLC) thin films in contrast to the usually used reflectance formula for the uniform thin films. Within the optical characterization the values of the standard deviation of non-uniformity is determined together with the correct values of the mean thickness and material parameters corresponding to the dispersion model based on the parameterization of the density of electronic states. On the basis of the material parameters determined the correct spectral dependences of the optical constants of the DLC films studied are calculated.

Návaznosti

GA202/07/1669, projekt VaV
Název: Depozice termomechanicky stabilních nanostrukturovaných diamantu-podobných tenkých vrstev ve dvojfrekvenčních kapacitních výbojích
Investor: Grantová agentura ČR, Depozice termomechanicky stabilních nanostrukturovaných diamantu-podobných tenkých vrstev ve dvojfrekvenčních kapacitních výbojích
MSM0021622411, záměr
Název: Studium a aplikace plazmochemických reakcí v neizotermickém nízkoteplotním plazmatu a jeho interakcí s povrchem pevných látek
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Studium a aplikace plazmochemických reakcí v neizotermickém nízkoteplotním plazmatu a jeho interakcí s povrchem pevných látek
MSM0021630518, záměr
Název: Simulační modelování mechatronických soustav