OHLÍDAL, Ivan, David NEČAS, Daniel FRANTA a Vilma BURŠÍKOVÁ. Characterization of non-uniform diamond-like carbon films by spectroscopic ellipsometry. Diamond and Related Materials. New York: Elsevier Science S.A., 2009, roč. 18, 2-3, s. 364-367. ISSN 0925-9635. Dostupné z: https://dx.doi.org/10.1016/j.diamond.2008.09.003.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název Characterization of non-uniform diamond-like carbon films by spectroscopic ellipsometry
Název česky Charakterizace neuniformních vrstev diamantu-podobného uhlíku pomocí spektroskopické elipsometrie
Autoři OHLÍDAL, Ivan (203 Česká republika, garant, domácí), David NEČAS (203 Česká republika, domácí), Daniel FRANTA (203 Česká republika, domácí) a Vilma BURŠÍKOVÁ (203 Česká republika, domácí).
Vydání Diamond and Related Materials, New York, Elsevier Science S.A. 2009, 0925-9635.
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Článek v odborném periodiku
Obor 10305 Fluids and plasma physics
Stát vydavatele Švýcarsko
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
WWW URL
Impakt faktor Impact factor: 1.822
Kód RIV RIV/00216224:14310/09:00029162
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
Doi http://dx.doi.org/10.1016/j.diamond.2008.09.003
UT WoS 000264429300060
Klíčová slova česky diamantu podobné uhlíkové vrstvy; tloušťková neuniformita; materiálové paramtery; optické konstanty
Klíčová slova anglicky diamond-like carbon films; thickness non-uniformity; material parameters; optical constants
Štítky diamond-like carbon films, material parameters, optical constants, thickness non-uniformity
Příznaky Mezinárodní význam, Recenzováno
Změnil Změnila: Mgr. Marie Šípková, DiS., učo 437722. Změněno: 18. 6. 2020 15:47.
Anotace
In practice many films prepared using various technologies exhibit stronger or slighter area non-uniformity. Diamond-like carbon (DLC) films are also prepared with this non-uniformity sometimes. In this contribution will be shown how to take into account the thickness non-uniformity of the films when their optical characterization is carried out using spectrometric ellipsometry. Two new formulas expressing each of the three associated ellipsometric parameters, i.e. three components of the Stokes vector, of the films exhibiting thickness non-uniformity will be presented for phase modulated ellipsometry.
Anotace česky
V praxi řada vrstev připravených různými technologiemi vykazuje slabší či silnější plošnou neuniformitu. Diamantu-podobné uhlíkové (DLC) vrstvy jsou také někdy vyrobeny s touto neuniformitou. V tomto příspěvku bude ukázáno, jak zahrnout tloušťkovou neuniformitu vrstev při optické charakterizaci pomocí spektroskopické elispometrie. Jsou ukázány dva nové vzorce vyjadřující komponenty Stokesova vektoru vrstev vykazující tloušťkovou neuniformitu pro fázově modulovanou elipsometrii.
Návaznosti
GA202/07/1669, projekt VaVNázev: Depozice termomechanicky stabilních nanostrukturovaných diamantu-podobných tenkých vrstev ve dvojfrekvenčních kapacitních výbojích
Investor: Grantová agentura ČR, Depozice termomechanicky stabilních nanostrukturovaných diamantu-podobných tenkých vrstev ve dvojfrekvenčních kapacitních výbojích
MSM0021622411, záměrNázev: Studium a aplikace plazmochemických reakcí v neizotermickém nízkoteplotním plazmatu a jeho interakcí s povrchem pevných látek
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Studium a aplikace plazmochemických reakcí v neizotermickém nízkoteplotním plazmatu a jeho interakcí s povrchem pevných látek
VytisknoutZobrazeno: 25. 4. 2024 14:58