-
Ionization Processes and Plasma Chemistry in Pulsed RF Glow Discharge TOF Mass Spectroscopy for Thin Film Depth Profile Analyses D - Stať ve sborníkuGROZA, A.; A. SURMEIAN; C. DIPLASU; A. TEMPEZ; P. CHAPON; L. LOBO; L. BORDEL; Tereza SCHMIDTOVÁ; Petr VAŠINA; P. BELENGUER; T. NELIS; P. GUILLOT; N. TUCCITO a A. LICCIARDELLO. Ionization Processes and Plasma Chemistry in Pulsed RF Glow Discharge TOF Mass Spectroscopy for Thin Film Depth Profile Analyses. In Book of Abstracts, Second Central European Symposium on Plasma Chemistry. Brno: Masarykova univerzita, 2008, s. 72-73.Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/813678/cs
-
Lokální analýza slitin, povrchů a objektů kulturního dědictví plazmovou spektrometrií s využitím laseru D - Stať ve sborníkuKANICKÝ, Viktor; Tomáš VACULOVIČ; Alice STAŇKOVÁ; Lubomír PROKEŠ; Veronika KONEČNÁ a Karel NOVOTNÝ. Lokální analýza slitin, povrchů a objektů kulturního dědictví plazmovou spektrometrií s využitím laseru. In 37. mezinárodní konference Defektoskopie 2007. Praha: Česká společnost pro nedestruktivní testování, 2007, s. 305-310. ISBN 978-80-214-3504-9.Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/752405/cs
-
Přímá analýza pevných látek plazmovou spektrometrií s využitím laseru D - Stať ve sborníkuKANICKÝ, Viktor; Tomáš VACULOVIČ; Markéta HOLÁ; Lubomír PROKEŠ; Veronika KONEČNÁ a Karel NOVOTNÝ. Přímá analýza pevných látek plazmovou spektrometrií s využitím laseru. In Anorganická analýza v životním prostředí, sborník přednášek ze semináře. Český Těšín: Ing. Václav Helán - 2 THETA, 2007, s. 73-78. ISBN 978-80-86380-41-4.Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/752535/cs