Filtrování

    2003

    1. Aplikace mikroskopie atomové síly při analýze tenkých vrstev ZnSe a ZnTe
      OHLÍDAL, Ivan; Petr KLAPETEK a Daniel FRANTA. Aplikace mikroskopie atomové síly při analýze tenkých vrstev ZnSe a ZnTe. Československý časopis pro fyziku. Praha: Fyzikální ústav AV ČR, 2003, roč. 53, č. 2, s. 97-100. ISSN 0009-0700.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/487577/cs
    2. Optical characterization of ZnSe thin films
      FRANTA, Daniel; Ivan OHLÍDAL; Petr KLAPETEK; Alberto MONTAIGNE-RAMIL; Alberta BONANNI; David STIFTER a Helmut SITTER. Optical characterization of ZnSe thin films. In 19th Congress of the International Commission for Optics: Optics for the Quality of Life. Bellingham, Washington, USA: SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2003, s. 831-832. ISBN 0-8194-4596-7.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/491338/cs
Zobrazit podrobně