F7840 Elektronová mikroskopie a její aplikace při studiu pevných látek

Přírodovědecká fakulta
podzim 2014
Rozsah
2/0/0. 1 kr. (plus ukončení). Ukončení: k.
Vyučující
RNDr. Jiří Buršík, DSc. (přednášející)
prof. Mgr. Tomáš Kruml, CSc. (přednášející), prof. RNDr. Josef Humlíček, CSc. (zástupce)
Garance
prof. RNDr. Josef Humlíček, CSc.
Ústav fyziky kondenzovaných látek - Fyzikální sekce - Přírodovědecká fakulta
Kontaktní osoba: RNDr. Alena Orlová, CSc.
Dodavatelské pracoviště: Ústav fyziky kondenzovaných látek - Fyzikální sekce - Přírodovědecká fakulta
Rozvrh
Po 15:00–16:50 Kontaktujte učitele
Omezení zápisu do předmětu
Předmět je nabízen i studentům mimo mateřské obory.
Mateřské obory/plány
Cíle předmětu
Studenti se seznámí s principy elektronové mikroskopie, jak transmisní, tak řádkovací. Budou probírány základy teorie zobrazení a difrakce v elektronovém mikroskopu. Pozornost bude věnována i analytickým metodám a novinkám v oblasti elektronové mikroskopie. Přednášky budou doplněny několika praktickými cvičeními u elektronových mikroskopů na pracovišti lektorů.
Osnova
  • Interaction of electrons with solids, types of electron microscopes. Imaging in a transmission electron microscope (TEM), specimens for the microscopy. Electron diffraction (scattering on an atom and a lattice, point diffraction pattern, Ewald construction, deviation from the exact reflection condition). TEM diffraction contrast (extinction contours, contrast of crystal defects). Kinematical and dynamical theory of contrast. Kikuchi lines. Practical tasks of electron diffraction and TEM. Application of stereology. High resolution electron microscopy HVEM (ideal imaging, influence of the real microscope, thin phase object, transmission function). Microdiffraction, CBED. Scanning electron microscopy (SEM), X-ray microanalysis.
Literatura
  • KARLÍK, Miroslav. Úvod do transmisní elektronové mikroskopie. Vyd. 1. Praha: České vysoké učení technické v Praze, 2011. 321 s. ISBN 9788001047293. info
  • GOLDSTEIN, Joseph I. Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis. 3rd ed. New York: Kluwer Academic/Plenum publishers, 2003. xix, 689 s. ISBN 0-306-47292-9. info
  • Transmission electron microscopy : physics of image formation and microanalysis. Edited by Ludwig Reimer. 3. ed. Berlin: Springer, 1993. 545 s. ISBN 3540568492. info
Výukové metody
přednášky, 2-3 praktické lekce
Metody hodnocení
kolokvium
Informace učitele
výuka i praktická cvičení probíhají na Ústavu fyziky materiálů AVČR, Žižkova 22, Brno
Další komentáře
Předmět je dovoleno ukončit i mimo zkouškové období.
Předmět je vyučován jednou za dva roky.
S.
Předmět je zařazen také v obdobích podzim 1999, podzim 2010 - akreditace, podzim 2001, podzim 2003, podzim 2004, podzim 2006, podzim 2008, podzim 2010, podzim 2011 - akreditace, podzim 2012, podzim 2016, podzim 2018, podzim 2019.