D 1999

Optical characterisation of a thick MOVPE InSb film on GaAs

LORENC, Michal; Jan ŠIK; Alois NEBOJSA; Karel NAVRÁTIL; Josef HUMLÍČEK et. al.

Základní údaje

Originální název

Optical characterisation of a thick MOVPE InSb film on GaAs

Autoři

LORENC, Michal; Jan ŠIK; Alois NEBOJSA; Karel NAVRÁTIL; Josef HUMLÍČEK; V. VORLIČEK a E. HULICIUS

Vydání

Prague, Workshop proceedings EW MOVPE VIII, s. 369-372, 1999

Nakladatel

Institute of Physics ASCR, CR

Další údaje

Jazyk

angličtina

Typ výsledku

Stať ve sborníku

Obor

10302 Condensed matter physics

Stát vydavatele

Česká republika

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Kód RIV

RIV/00216224:14310/99:00000929

Organizační jednotka

Přírodovědecká fakulta

ISBN

80-238-3551-3

Klíčová slova anglicky

MOVPE; InSb; ellipsometry; reflectance; Raman; annealing

Štítky

Změněno: 29. 5. 2004 18:44, RNDr. JUDr. Vladimír Šmíd, CSc.

Anotace

V originále

Optical characterisation of a thick MOVPE InSb film on GaAs

Návaznosti

GA202/99/1613, projekt VaV
Název: Kvantové tečky v polovodičích III-V
Investor: Grantová agentura ČR, Kvantové tečky v polovodičích III-V
MSM 143100002, záměr
Název: Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur