MARŠÍK, Přemysl a Josef HUMLÍČEK. Multiplate misalignment artifacts in rotating-complensator ellipsometry: Analysis and data treatment. physica status solidi (c). Weinheim: WILEY-VCH Verlag GmbH, 2008, roč. 5, č. 5, s. 1064-1067. ISSN 1610-1634.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název Multiplate misalignment artifacts in rotating-complensator ellipsometry: Analysis and data treatment
Název česky Artefakty v elipsometrii s rotačním kompenzátorem: analýza a zacházení s daty
Autoři MARŠÍK, Přemysl (203 Česká republika) a Josef HUMLÍČEK (203 Česká republika, garant).
Vydání physica status solidi (c), Weinheim, WILEY-VCH Verlag GmbH, 2008, 1610-1634.
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Článek v odborném periodiku
Obor 10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele Česká republika
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
Kód RIV RIV/00216224:14310/08:00026013
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
UT WoS 000256862500015
Klíčová slova anglicky ellipsometry; rotating compensator
Štítky ellipsometry, rotating compensator
Příznaky Mezinárodní význam, Recenzováno
Změnil Změnil: Mgr. Přemysl Maršík, Ph.D., učo 13477. Změněno: 9. 4. 2010 16:47.
Anotace
Rotating compensator ellipsometry using multi-plate retarders can suffer from various artifacts. Our measurements in the range from 1.4 to 6.2 eV revealed spurious oscillations in ellipsometric parameters. We assign these oscillations to the angular misalignment between the individual plates of the retarder. A simple model using Mueller matrix framework is constructed to describe the observed effects and to elucidate the origin of the artifacts. The model is used to predict the impact of the artifacts on the results of signal analysis, and a calibration procedure is presented. Finally, the knowledge of the origin of the artifacts has been successfully used to reduce substantially the spurious oscillations in measured data.
Anotace česky
Elipsometrie s rotujícím kompenzátorem, používající vícedeskové retardéry, může trpět různými artefakty. Naše měření v oboru 1.4 až 6.2 eV odhalila rušivé oscilace elipsometrických parametrů Tyto oscilace přiřazujeme nesouladu úhlových poloh jednotlivých desek retardéru.
Návaznosti
MSM0021622410, záměrNázev: Fyzikální a chemické vlastnosti pokročilých materiálů a struktur
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Fyzikální a chemické vlastnosti pokročilých materiálů a struktur
VytisknoutZobrazeno: 28. 4. 2024 04:50