2010
High resolution deformation-based morphometry reveals a complex pattern of brain morphology changes in schizophrenia
KAŠPÁREK, Tomáš; Daniel SCHWARZ a Radovan PŘIKRYLZákladní údaje
Originální název
High resolution deformation-based morphometry reveals a complex pattern of brain morphology changes in schizophrenia
Název česky
Morfometrie, založená na vysokém rozlišení deformace odhaluje složitý vzorec změn morfologie mozku u schizofrenie
Název anglicky
High resolution deformation-based morphometry reveals a complex pattern of brain morphology changes in schizophrenia
Autoři
KAŠPÁREK, Tomáš; Daniel SCHWARZ a Radovan PŘIKRYL
Vydání
2010
Další údaje
Jazyk
čeština
Typ výsledku
Konferenční abstrakt
Obor
30211 Orthopaedics
Stát vydavatele
Česká republika
Utajení
není předmětem státního či obchodního tajemství
Impakt faktor
Impact factor: 4.374
Označené pro přenos do RIV
Ne
Organizační jednotka
Lékařská fakulta
ISSN
UT WoS
Změněno: 4. 10. 2012 12:53, Mgr. Michal Petr
Návaznosti
| MSM0021622404, záměr |
|