Filtrování

    2008

    1. E-learning - optické analytické metody
      JANČÁŘ, Luděk a Lucie SICHOVÁ. E-learning - optické analytické metody. In Acta Fac. Paed. Univ. Tyrnaviensis, Ser. D., Supplementum 2, No. 12. Trnava, 2008, s. 267-270. ISBN 978-80-8082-182-1.
      Název česky: E-learning - optické analytické metody
      Název anglicky: E-learning - optical analytical methods
      Pedagogika a školství. čeština. Slovensko.
      Klíčová slova anglicky: E-learning; analytical chemistry; optical methods; multimedia; education
      Druh sborníku: postkonferenční sborník
      Recenzováno: ano
      Změnil: doc. RNDr. Luděk Jančář, CSc., učo 1692. Změněno: 29. 3. 2013 11:05.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/806859/cs

    2003

    1. Atomic force microscopy characterization of ZnTe epitaxial films
      KLAPETEK, Petr; Ivan OHLÍDAL; Daniel FRANTA; Alberto MONTAIGNE-RAMIL; Alberta BONANNI; David STIFTER a Helmut SITTER. Atomic force microscopy characterization of ZnTe epitaxial films. Acta Physica Slovaca. Bratislava: Institute of Physics, SAS, 2003, roč. 53, č. 3, s. 223-230. ISSN 0323-0465.
      URL
      RIV/00216224:14310/03:00009017 Článek v odborném periodiku. Fyzika pevných látek a magnetismus. angličtina. Slovensko.
      Klapetek, Petr (203 Česká republika) -- Ohlídal, Ivan (203 Česká republika, garant) -- Franta, Daniel (203 Česká republika) -- Montaigne-Ramil, Alberto (192 Kuba) -- Bonanni, Alberta (380 Itálie) -- Stifter, David (40 Rakousko) -- Sitter, Helmut (40 Rakousko)
      Klíčová slova anglicky: OPTICAL METHODS; THIN-FILMS; GOLD
      Změnil: Mgr. Daniel Franta, Ph.D., učo 2000. Změněno: 25. 12. 2003 01:17.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/489711/cs

    2002

    1. Analysis of the boundaries of ZrO2 and HfO2 thin films by atomic force microscopy and the combined optical method
      KLAPETEK, Petr; Ivan OHLÍDAL; Daniel FRANTA a Pavel POKORNÝ. Analysis of the boundaries of ZrO2 and HfO2 thin films by atomic force microscopy and the combined optical method. Surface and Interface Analysis. USA: John Wiley & Sons, 2002, roč. 34, č. 1, s. 559-564. ISSN 0142-2421.
      URL
      RIV/00216224:14310/02:00006294 Článek v odborném periodiku. Fyzika pevných látek a magnetismus. angličtina. Spojené státy.
      Klapetek, Petr (203 Česká republika) -- Ohlídal, Ivan (203 Česká republika, garant) -- Franta, Daniel (203 Česká republika) -- Pokorný, Pavel (203 Česká republika)
      Klíčová slova anglicky: ZrO2 and Hfo2 films; AFM; optical methods; rough upper boundaries
      Změnil: Mgr. Daniel Franta, Ph.D., učo 2000. Změněno: 18. 12. 2003 15:20.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/404727/cs

    1999

    1. Optical methods for surface characterization
      OHLÍDAL, Ivan. Optical methods for surface characterization. In 11th Slovak-Czech-Polish Optical Conference on Wave and Quantum Aspects of Contemporary Optics. Bellingham, Washington, USA: SPIE - The International Society for Optical Engineering, 1999, s. 429-440. SPIE Proceeding Series, Volume 3820. ISBN 0-8194-3306-3.
      RIV/00216224:14310/99:00003216 Stať ve sborníku. Fyzika pevných látek a magnetismus. angličtina. Spojené státy.
      Klíčová slova anglicky: Optical methods; Solid surfaces Thin films
      Změnil: prof. RNDr. Ivan Ohlídal, DrSc., učo 2397. Změněno: 25. 1. 2001 15:48.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/207572/cs