Výpis publikací

MATYI, Richard J; Laura E. DEPERO; Elza BONTEMPI; Paolo COLOMBI; Alan GIBAUD; Matej JERGEL; Michael KRUMREY; Tamzin LAFFORD; Alessio LAMPERTI; Mojmír MEDUŇA; A. van der LEE a Claudia WIEMER. The international VAMAS project on X-ray reflectivity measurements for evaluation of thin films and multilayers - Preliminary results from the second round-robin. Thin Solid Films. Elsevier, 2008, roč. 516, č. 22, s. 7962-7966. ISSN 0040-6090.

BOCHNÍČEK, Zdeněk; Jan ČECHAL a Tomáš ŠIKOLA. X-ray reflection study of early stages of Pt silicide formation. In 7th Bienal Conference on High Resolution X-ray Diffraction and Imaging, Book of abstracts. Praha: Fyzikální ústav AV ČR, 2004, s. P7, 1 s.

MIKULÍK, Petr; M. JERGEL; T. BAUMBACH; E. MAJKOVÁ; E. PINČÍK; Š. LUBY; L. ORTEGA; R. TUCOULOU; P. HUDEK a I. KOSTIČ. Coplanar and non-coplanar x-ray reflectivity characterization of lateral W/Si multilayer gratings. J. Phys. D: Appl. Phys. Velká Britanie: IOP Publishing Ltd, 2001, roč. 34, 10A, s. A188, 5 s. ISSN 0022-3727.

ULYANENKOV, A.; K. INABA; Petr MIKULÍK; N. DAROWSKI; K. OMOTE; J. GRENZER a A. FORCHEL. X-ray diffraction and reflectivity analysis of GaAs/InGaAs free-standing trapezoidal quantum wires. J. Phys. D: Appl. Phys. Velká Britanie: IOP Publishing Ltd, 2001, roč. 34, 10A, s. A179, 4 s. ISSN 0022-3727.

POLOUČEK, Pavel; U. PIETSCH; T. GEUE; C. SYMIETZ a G. BREZESINSKI. X-ray reflectivity analysis of thin complex Langmuir-Blodgett films. Journal of physics D: Applied physics. Bristol, England: IOP Publishing Ltd., 2001, roč. 34, č. 4, s. 450-458. ISSN 0022-3727.

JERGEL, M.; C. FALCONY; Petr MIKULÍK; L. ORTEGA; E. MAJKOVÁ; E. PINČÍK; Š. LUBY; I. KOSTIČ a P. HUDEK. X-ray reflectivity study of a W/Si multilayer grating. Superficies y Vacío. Mexico: Sociedad Mexicana de Ciencia de Superfic, 2001, roč. 2001, č. 13, s. 10-14. ISSN 1665-3521.

JERGEL, M.; Petr MIKULÍK; E. MAJKOVÁ; E. PINČÍK; Š. LUBY; M. BRUNEL; P. HUDEK a I. KOSTIČ. Multilayer gratings for X-UV optics. Acta physica slovaca. Bratislava: Institute of Physics, SAS, 2000, roč. 50, č. 4, s. 427-864. ISSN 0323-0465.