Masarykova univerzita

Výpis publikací

česky | in English

Filtrování publikací

    2019

  1. KASPAR, P., D. SOBOLA, R. DALLAEV, S. RAMAZANOV, Alois NEBOJSA, S. REZAEE a L. GRMELA. Characterization of Fe2O3 thin film on highly oriented pyrolytic graphite by AFM, Ellipsometry and XPS. Applied Surface Science, AMSTERDAM: Elsevier Science BV, 2019, roč. 493, NOV 1 2019, s. 673-678. ISSN 0169-4332. doi:10.1016/j.apsusc.2019.07.058.
  2. SOBOLA, Dinara, Pavel KASPAR, Alois NEBOJSA, Dušan HEMZAL, Lubomir GRMELA a Steve SMITH. Characterization of the native oxide on CdTe surfaces. Materials Science-Poland, Warsaw: SCIENDO, 2019, roč. 37, č. 2, s. 206-211. ISSN 2083-1331. doi:10.2478/msp-2019-0030.
  3. 2011

  4. HUMLÍČEK, Josef, Alois NEBOJSA, Filip MÜNZ, Milka MIRIC a Rados GAJIC. Infrared ellipsometry of highly oriented pyrolytic graphite. Thin Solid Films, Elsevier, 2011, roč. 519, č. 9, s. 2624-2626. ISSN 0040-6090. doi:10.1016/j.tsf.2010.12.091.
  5. 2008

  6. FIKAROVÁ ZRZAVECKÁ, Olga, Alois NEBOJSA, Karel NAVRÁTIL, Stanislav NEŠPŮREK a Josef HUMLÍČEK. Dynamics of UV degradation of PMPSi in vacuum and in the air using in-situ ellipsometry. physica status solidi (c), 2008, roč. 5, č. 5, s. 1176-1179. ISSN 1610-1642.
  7. NEBOJSA, Alois, Olga FIKAROVÁ ZRZAVECKÁ, Karel NAVRÁTIL a Josef HUMLÍČEK. Temperature dependence of ellipsometric spectra of Fe and CrNiAl steel. physica status solidi (c), 2008, roč. 5, č. 5, s. 1176-1179. ISSN 1610-1642.
  8. 2004

  9. ČECHAL, Jan, Petr TICHOPÁDEK, Alois NEBOJSA, Olga BONAVENTUROVÁ ZRZAVECKÁ, Michal URBÁNEK, Jiří SPOUSTA, Karel NAVRÁTIL a Tomáš ŠIKOLA. In situ analysis of PMPSi by spectroscopic ellipsometry and XPS. Surface and Interface Analysis, USA: John Wiley & Sons, 2004, roč. 2004, č. 36, s. 1218-1221. ISSN 0142-2421.
  10. BRANDEJSOVÁ, Eva, Jan ČECHAL, Olga BONAVENTUROVÁ ZRZAVECKÁ, Alois NEBOJSA, Petr TICHOPÁDEK, Michal URBÁNEK, Karel NAVRÁTIL, Tomáš ŠIKOLA a Josef HUMLÍČEK. In situ analysis of PMPSi thin films by spectroscopic ellipsometry. Jemná mechanika a optika, Přerov: Physical Institute, ASCR, 2004, roč. 9/2004, č. 9, s. 260-262. ISSN 0447-6441.
  11. BONAVENTUROVÁ ZRZAVECKÁ, Olga, Alois NEBOJSA, Karel NAVRÁTIL, Stanislav NEŠPŮREK a Josef HUMLÍČEK. Temperature dependence of ellipsometric spectra of poly(methyl-phenylsilane). Thin Solid Films, Elsevier, 2004, roč. 455/2004, may, s. 278-282. ISSN 0040-6090.
  12. 1999

  13. LORENC, Michal, Jan ŠIK, Alois NEBOJSA, Karel NAVRÁTIL, Josef HUMLÍČEK, V. VORLIČEK a E. HULICIUS. Optical characterisation of a thick MOVPE InSb film on GaAs. In Workshop proceedings EW MOVPE VIII. Prague: Institute of Physics ASCR, CR, 1999. s. 369-372. ISBN 80-238-3551-3.
  14. 1998

  15. ŠIKOLA, T., J. SPOUSTA, R. ČEŠKA, J. ZLÁMAL, L. DITTRICHOVÁ, Alois NEBOJSA, Karel NAVRÁTIL, D. RAFAJA, J. ZEMEK a V. PEŘINA. Deposition of metal nitrides by IBAD. Surface & coatings technology, Elsevier Science, 1998, roč. 1998, 108-109, s. 284-291. ISSN 0257-8972.
  16. HUMLÍČEK, Josef, Alois NEBOJSA, J. HORA, M. STRÁSKÝ, J. SPOUSTA a T. ŠIKOLA. Ellipsometry and transport studies of thin-film metal nitrides. Thin Solid Films, UK Oxford: Elsevier science, 1998, roč. 1998, č. 332, s. 25-29. ISSN 0040-6090.
Zobrazit podrobně
Zobrazeno: 3. 6. 2020 06:02