Masarykova univerzita

Výpis publikací

česky | in English

Filtrování publikací

    2008

    1. Influence of cross-correlation effects on the optical quantities of rough films
      FRANTA, Daniel, Ivan OHLÍDAL a David NEČAS. Influence of cross-correlation effects on the optical quantities of rough films. Optics Express. elektronicky: Optical Society of America, 2008, roč. 16, č. 11, s. 7789–7803. ISSN 1094-4087.
      Název česky: Vliv vzájemných korelačních efektů na optické veličiny drsných vrstev
      RIV/00216224:14310/08:00025416 Článek v odborném periodiku. Optika, masery a lasery. angličtina. Spojené státy.
      Franta, Daniel (203 Česká republika, garant) -- Ohlídal, Ivan (203 Česká republika) -- Nečas, David (203 Česká republika)
      Klíčová slova anglicky: Roughness; Rayleigh-Rice theory; Cross-correlation effects
      Mezinárodní význam: ano
      Recenzováno: ano
      Změnil: Mgr. Daniel Franta, Ph.D., učo 2000. Změněno: 3. 7. 2009 09:45.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/806290/cs

    2006

    1. Influence of lateral dimensions of the irregularities on the optical quantities of rough surfaces
      FRANTA, Daniel a Ivan OHLÍDAL. Influence of lateral dimensions of the irregularities on the optical quantities of rough surfaces. Journal of Optics A: Pure and Applied Optics. Bristol, GB: IOP Publishing Ltd, 2006, roč. 8, č. 9, s. 763-774. ISSN 1464-4258.
      Název česky: Vliv laterálních rozměrů nerovností na optické veličiny drsných povrchů
      RIV/00216224:14310/06:00016538 Článek v odborném periodiku. Optika, masery a lasery. angličtina. Velká Británie a Severní Irsko.
      Franta, Daniel (203 Česká republika, garant) -- Ohlídal, Ivan (203 Česká republika)
      Klíčová slova anglicky: roughness; ellipsometry; spectrophotometry
      Změnil: Mgr. Daniel Franta, Ph.D., učo 2000. Změněno: 31. 1. 2007 20:45.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/711191/cs

    2005

    1. Atomic force microscopy analysis of morphology of the upper boundaries of GaN thin films prepared by MOCVD
      KLAPETEK, Petr, Ivan OHLÍDAL, Alberto MONTAIGNE RAMIL, Alberta BONNANNI a Helmut SITTER. Atomic force microscopy analysis of morphology of the upper boundaries of GaN thin films prepared by MOCVD. Vacuum. USA: ELSEVIER (PERGAMON), 2005, roč. 80, 1-3, s. 53-57. ISSN 0042-207X.
      Název česky: Analýza morfologie horních rozhraní vrstev GaN připravených pomocí MOCVD s využitím mikroskopie atomové síly
      RIV/00216224:14310/05:00015079 Článek v odborném periodiku. Fyzika pevných látek a magnetismus. angličtina. Velká Británie a Severní Irsko.
      Klapetek, Petr (203 Česká republika) -- Ohlídal, Ivan (203 Česká republika, garant) -- Montaigne Ramil, Alberto (192 Kuba) -- Bonnanni, Alberta (380 Itálie) -- Sitter, Helmut (40 Rakousko)
      Klíčová slova anglicky: Roughness; AFM; GaN films
      Změnil: prof. RNDr. Ivan Ohlídal, DrSc., učo 2397. Změněno: 28. 2. 2006 17:44.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/630333/cs
    2. Combination of optical methods and atomic force microscopy at characterization of thin film systems
      OHLÍDAL, Ivan, Daniel FRANTA a Petr KLAPETEK. Combination of optical methods and atomic force microscopy at characterization of thin film systems. Acta physica slovaca. Bratislava: Institute of Physics, SAS, 2005, roč. 55, č. 3, s. 271-294. ISSN 0323-0465.
      URL
      Název česky: Kombinace optických metod a mikroskopie atomové síly pro zkoumání systémů tenkých vrstev
      RIV/00216224:14330/05:00013181 Článek v odborném periodiku. Fyzika pevných látek a magnetismus. angličtina. Slovensko.
      Ohlídal, Ivan (203 Česká republika, garant) -- Franta, Daniel (203 Česká republika) -- Klapetek, Petr (203 Česká republika)
      Klíčová slova anglicky: Roughness; Ellipsometry; Spectrophotometry; AFM
      Změnil: RNDr. JUDr. Vladimír Šmíd, CSc., učo 1084. Změněno: 27. 4. 2006 19:52.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/621521/cs
    3. Comparison of effective medium approximation and Rayleigh-Rice theory concerning ellipsometric characterization of rough surfaces
      FRANTA, Daniel a Ivan OHLÍDAL. Comparison of effective medium approximation and Rayleigh-Rice theory concerning ellipsometric characterization of rough surfaces. Optics Communications. Amsterdam: Elsevier Science, 2005, roč. 248, č. 1, s. 459-467. ISSN 0030-4018.
      URL
      Název česky: Srovnání teorie efektivního prostředí a Rayleigho-Riceovy teorie týkající se elipsometrického studia drsných povrchů
      RIV/00216224:14310/05:00013547 Článek v odborném periodiku. Optika, masery a lasery. angličtina. Nizozemské království.
      Franta, Daniel (203 Česká republika, garant) -- Ohlídal, Ivan (203 Česká republika)
      Klíčová slova anglicky: Roughness; Ellipsometry; EMA; RRT
      Změnil: Mgr. Daniel Franta, Ph.D., učo 2000. Změněno: 3. 2. 2006 17:18.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/621520/cs
    4. Characterization of optical thin films exhibiting defects
      FRANTA, Daniel a Ivan OHLÍDAL. Characterization of optical thin films exhibiting defects. In Advances in Optical Thin Films II. Bellingham, Washington, USA: SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2005, s. 59632H-1-59632H-12, 12 s. ISBN 0-8194-5981-X.
      URL
      Název česky: Charakterizace optických tenkých vrstev vykazující defekty
      RIV/00216224:14330/05:00013207 Stať ve sborníku. Fyzika pevných látek a magnetismus. angličtina. Spojené státy.
      Franta, Daniel (203 Česká republika, garant) -- Ohlídal, Ivan (203 Česká republika)
      Klíčová slova anglicky: ellipsometry; spectrophotometry; thin films; roughness; refractive index profile
      Změnil: RNDr. JUDr. Vladimír Šmíd, CSc., učo 1084. Změněno: 27. 4. 2006 19:54.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/621764/cs

    2004

    1. Application of thin film mercury electrodes and solid amalgam electrodes in electrochemical analysis of the nucleic acids components: detection of the two-dimensional phase transients of adenosine.
      HASOŇ, Stanislav a Vladimír VETTERL. Application of thin film mercury electrodes and solid amalgam electrodes in electrochemical analysis of the nucleic acids components: detection of the two-dimensional phase transients of adenosine. Bioelectrochemistry. Elsevier, 2004, roč. 2004, č. 63, s. 37-41. ISSN 1567-5394.
      Název česky: Použití filmových rtuťových a pevných amalgámových elektrod v elektrochemické analýze složek nukleových kyselin: detekce dvojrozměrných fázových přechodů adenosinu.
      RIV/00216224:14310/04:00011222 Článek v odborném periodiku. Biofyzika. angličtina. Česká republika.
      Hasoň, Stanislav (203 Česká republika) -- Vetterl, Vladimír (203 Česká republika, garant)
      Klíčová slova anglicky: mercury film electrodes; solid amalgam electrodes; roughness; adenosine adlayers; two-dimensional phase transition
      Změnil: prof. RNDr. Vladimír Vetterl, DrSc., učo 1954. Změněno: 14. 2. 2005 16:45.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/567127/cs
    2. Influence of the atomic force microscope tip on the multifractal analysis of rough surfaces
      KLAPETEK, Petr, Ivan OHLÍDAL a Jindřich BÍLEK. Influence of the atomic force microscope tip on the multifractal analysis of rough surfaces. Ultramicroscopy. Amsterdam: Elsevier, 2004, roč. 102, č. 1, s. 51-59. ISSN 0304-3991.
      Název česky: Vliv
      RIV: Článek v odborném periodiku. Fyzika pevných látek a magnetismus. angličtina. Nizozemské království.
      Klapetek, Petr (203 Česká republika) -- Ohlídal, Ivan (203 Česká republika, garant) -- Bílek, Jindřich (203 Česká republika)
      Klíčová slova anglicky: Roughness; AFM
      Změnil: prof. RNDr. Ivan Ohlídal, DrSc., učo 2397. Změněno: 15. 8. 2005 18:25.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/574146/cs

    2002

    1. Applications of atomic force microscopy for thin film boundary measurements
      KLAPETEK, Petr, Ivan OHLÍDAL a Daniel FRANTA. Applications of atomic force microscopy for thin film boundary measurements. Jemná mechanika a optika. Přerov: Physical Institute, ASCR, 2002, roč. 47, 6-7, s. 195-199. ISSN 0447-6441.
      URL
      RIV/00216224:14310/02:00006295 Článek v odborném periodiku. Optika, masery a lasery. angličtina. Česká republika.
      Klapetek, Petr (203 Česká republika) -- Ohlídal, Ivan (203 Česká republika, garant) -- Franta, Daniel (203 Česká republika)
      Klíčová slova anglicky: Roughness; Atomic Force Microscopy
      Změnil: Mgr. Daniel Franta, Ph.D., učo 2000. Změněno: 25. 12. 2003 01:03.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/404728/cs

    1999

    1. Complete optical characterization of imperfect hydrogenated amorphous silicon layers by spectroscopic ellipsometry and spectroscopic reflectometry
      FRANTA, Daniel, Ivan OHLÍDAL, Dominik MUNZAR, Jaroslav HORA, Karel NAVRÁTIL, Claudio MANFREDOTTI, Franco FIZZOTTI a Ettore VITTONE. Complete optical characterization of imperfect hydrogenated amorphous silicon layers by spectroscopic ellipsometry and spectroscopic reflectometry. Thin Solid Films. Oxford, UK: Elsevier science, 1999, roč. 343-344, č. 1, s. 295-298. ISSN 0040-6090.
      URL
      RIV/00216224:14310/99:00002088 Článek v odborném periodiku. Fyzika pevných látek a magnetismus. angličtina. Velká Británie a Severní Irsko.
      Franta, Daniel (203 Česká republika, garant) -- Ohlídal, Ivan (203 Česká republika) -- Munzar, Dominik (203 Česká republika) -- Hora, Jaroslav (203 Česká republika) -- Navrátil, Karel (203 Česká republika) -- Manfredotti, Claudio (380 Itálie) -- Fizzotti, Franco (380 Itálie) -- Vittone, Ettore (380 Itálie)
      Klíčová slova anglicky: Amorphous silicon films; Optical constants; Roughness
      Změnil: Mgr. Daniel Franta, Ph.D., učo 2000. Změněno: 21. 12. 2003 23:25.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/206712/cs
Zobrazeno: 31. 5. 2024 23:02