Výpis publikací

KLANG, Pavel a Václav HOLÝ. X-ray diffuse scattering from stacking faults in Czochralski silicon. Semicond. Sci. Technol. Velká Britanie: IOP Publishing Ltd, 2006, roč. 21, č. 3, s. 352-357. ISSN 0268-1242.

LÜBBERT, D.; C. FERRARI; Petr MIKULÍK; P. PERNOT; L. HELFEN; N. VERDI; D. KORYTÁR a T. BAUMBACH. Distribution and Burgers vectors of dislocations in semiconductor wafers investigated by rocking-curve imaging. J. Appl. Crystallography. Velká Britanie: Int. Union of Crystallography, 2005, roč. 38, č. 1, s. 91-96. ISSN 0021-8898.

KLANG, Pavel; Václav HOLÝ; Josef KUBĚNA; Richard ŠTOUDEK a Jan ŠIK. X-ray diffuse scattering from defects in nitrogen-doped Czochralski grown silicon wafers. J. Phys. D: Appl. Phys. Velká Britanie: IOP Publishing Ltd, 2005, roč. 2005, č. 38, s. A105-A110, 6 s. ISSN 0022-3727.

FERRARI, C.; N. VERDI; D. LÜBBERT; D. KORYTÁR; Petr MIKULÍK; T. BAUMBACH; L. HELFEN a P. PERNOT. Determination of lattice plane curvature and dislocation Burgers vector density in crystals by rocking curve imaging technique. Proceedings of SPIE: Crystals, Multilayers, and Other Synchrotron Optics. USA: SPIE, 2003, roč. 5195, č. 1, s. 84-93. ISSN 0-8194-5068-5.

MIKULÍK, Petr; D. LÜBBERT; D. KORYTÁR; P. PERNOT a T. BAUMBACH. Synchrotron area diffractometry as a tool for spatial high-resolution three-dimensional lattice misorientation mapping. J. Phys. D: Appl. Phys. Velká Britanie: IOP Publishing Ltd, 2003, roč. 36, č. 1, s. A74-A78, 5 s. ISSN 0022-3727.

MIKULÍK, Petr; T. BAUMBACH; D. KORYTÁR; P. PERNOT; D. LÜBBERT; L. HELFEN a Ch. LANDESBERGER. Advanced X-ray diffraction imaging techniques for semiconductor wafer characterisation. Materials Structure. Praha: The Czech and Slovak Cryst. Assoc., 2002, roč. 9, č. 2, s. 87-88. ISSN 1211-5894.

FAIMON, Jiří. Má rozpouštění "nových povrchů" geochemický význam? Geologické výzkumy na Moravě a ve Slezsku v roce 1997. Brno: Masaryk. Univ., ČGÚ, 1998, V. ročník, č. 1, s. 97-98. ISSN 8021018135.