Výpis publikací

DANIEL, A.;, Václav HOLÝ, Y. ZHUANG, T. ROCH, J. GRENZER, Zdeněk BOCHNÍČEK a G. BAUER. GID study of strains in Si due to patterned SiO2. J. Phys. D: Appl. Phys. Velká Britanie: IOP Publishing Ltd, 2001, roč. 34, 10A, s. A197, 6 s. ISSN 0022-3727.

ULYANENKOV, A., K. INABA, Petr MIKULÍK, N. DAROWSKI, K. OMOTE, J. GRENZER a A. FORCHEL. X-ray diffraction and reflectivity analysis of GaAs/InGaAs free-standing trapezoidal quantum wires. J. Phys. D: Appl. Phys. Velká Britanie: IOP Publishing Ltd, 2001, roč. 34, 10A, s. A179, 4 s. ISSN 0022-3727.

ZHUANG, Y., Václav HOLÝ, J. STANGL, A.A. DARHUBER, Petr MIKULÍK, S. ZERLAUTH, F. SCHÄFFLER, G. BAUER, N. DAROWSKI, D. LÜBBERT a U. PIETSCH. Strain relaxation in periodic arrays of Si/SiGe quantum wires determined by coplanar high resolution x-ray diffraction and grazing incidence diffraction. J. Phys. D: Appl. Phys. Velká Britanie: IOP Publishing Ltd, 1999, roč. 32, č. 9999, s. A224, 6 s. ISSN 0022-3727.