Filtrování

    2000

    1. Analysis of Slightly Rough Thin Films by Optical Methods and AFM J - Článek v odborném periodiku
      FRANTA, Daniel; Ivan OHLÍDAL a Petr KLAPETEK. Analysis of Slightly Rough Thin Films by Optical Methods and AFM. Mikrochim. Acta. Wien: Springer-Verlag, 2000, roč. 132, č. 1, s. 443-447. ISSN 0026-3672.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/313891/cs
    2. Optical characterization of inhomogeneous thin films of ZrO2 by spectroscopic ellipsometry and spectroscopic reflectometry J - Článek v odborném periodiku
      FRANTA, Daniel a Ivan OHLÍDAL. Optical characterization of inhomogeneous thin films of ZrO2 by spectroscopic ellipsometry and spectroscopic reflectometry. Surface and Interface Analysis. USA: John Wiley & Sons, 2000, roč. 30, č. 1, s. 574-579. ISSN 0142-2421.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/334911/cs

    1998

    1. Analysis of thin films with slightly rough boundaries J - Článek v odborném periodiku
      OHLÍDAL, Ivan; Daniel FRANTA; Jaroslav HORA; Karel NAVRÁTIL; Jan WEBER a Pavel JANDA. Analysis of thin films with slightly rough boundaries. Mikrochim. Acta. Wien: Springer-Verlag, 1998, Suppl. 15, č. 1, s. 177-180. ISSN 0026-3672.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/200406/cs
Zobrazit podrobně