Výpis publikací

MEDUŇA, Mojmír; Jiří NOVÁK; Günther BAUER; Václav HOLÝ; Claudiu FALUB; Soichiro TSUJINO a Detlev GRÜTZMACHER. In situ investigations of Si and Ge interdiffusion in Ge-rich Si/SiGe multilayers using x-ray scattering. Semicond. Sci. Technol. Velká Britanie: IOP Publishing Ltd, 2007, roč. 22, č. 4, s. 447–453. ISSN 0268-1242.

MIKULÍK, Petr. X-ray reflectometry and diffuse scattering. 2007. vyd. Smolenice (Slovensko): 7th Autumn School on X-ray scattering from surfaces and thin layers, 2007. international workshop.

MEDUŇA, Mojmír; Jiří NOVÁK; Claudiu FALUB; Günther BAUER a Detlev GRÜTZMACHER. High Temperature in-situ Investigation of Si/SiGe Multilayers and Cascade Structures. Materials Structure in Chemistry, Biology, Physics and Technology. Praha, 2005, roč. 12, č. 2, s. 126. ISSN 1211-5894.

MEDUŇA, Mojmír; Jiří NOVÁK; Václav HOLÝ; Günther BAUER; Claudiu FALUB; Soichiro TSUJINO; Elisabeth MÜLLER; Detlev GRÜTZMACHER; Yves CAMPIDELLI; Olivier KERMARREC a Daniel BENSAHEL. Annealing studies of high Ge composition Si/SiGe multilayers. Zeitschrift fur Kristalographie. R. Oldenbourg Verlag GmbH, 2004, roč. 219, č. 4, s. 195-200. ISSN 0044-2968.

MIKULÍK, Petr; M. JERGEL; T. BAUMBACH; E. MAJKOVÁ; E. PINČÍK; Š. LUBY; L. ORTEGA; R. TUCOULOU; P. HUDEK a I. KOSTIČ. Coplanar and non-coplanar x-ray reflectivity characterization of lateral W/Si multilayer gratings. J. Phys. D: Appl. Phys. Velká Britanie: IOP Publishing Ltd, 2001, roč. 34, 10A, s. A188, 5 s. ISSN 0022-3727.

ULYANENKOV, A.; K. INABA; Petr MIKULÍK; N. DAROWSKI; K. OMOTE; J. GRENZER a A. FORCHEL. X-ray diffraction and reflectivity analysis of GaAs/InGaAs free-standing trapezoidal quantum wires. J. Phys. D: Appl. Phys. Velká Britanie: IOP Publishing Ltd, 2001, roč. 34, 10A, s. A179, 4 s. ISSN 0022-3727.

JERGEL, M.; C. FALCONY; Petr MIKULÍK; L. ORTEGA; E. MAJKOVÁ; E. PINČÍK; Š. LUBY; I. KOSTIČ a P. HUDEK. X-ray reflectivity study of a W/Si multilayer grating. Superficies y Vacío. Mexico: Sociedad Mexicana de Ciencia de Superfic, 2001, roč. 2001, č. 13, s. 10-14. ISSN 1665-3521.