F7850 Vybrané kapitoly z elektronové mikroskopie

Přírodovědecká fakulta
podzim 2025
Rozsah
2/0/0. 2 kr. (plus ukončení). Ukončení: k.
Vyučováno kontaktně
Vyučující
doc. RNDr. Petr Mikulík, Ph.D. (přednášející)
RNDr. Lubomír Tůma (přednášející)
Ing. Tomáš Vystavěl, PhD. (přednášející), doc. RNDr. Petr Mikulík, Ph.D. (zástupce)
Garance
doc. RNDr. Petr Mikulík, Ph.D.
Ústav fyziky kondenzovaných látek – Fyzikální sekce – Přírodovědecká fakulta
Kontaktní osoba: doc. RNDr. Petr Mikulík, Ph.D.
Dodavatelské pracoviště: Ústav fyziky kondenzovaných látek – Fyzikální sekce – Přírodovědecká fakulta
Rozvrh
Čt 16:00–17:50 F4,03017
Omezení zápisu do předmětu
Předmět je nabízen i studentům mimo mateřské obory.
Mateřské obory/plány
předmět má 9 mateřských oborů, zobrazit
Anotace
Studenti by měli po úspěšném absolvování kurzu být schopni popsat konstrukci elektronových mikroskopů, charakterizovat jednotlivé fyzikální procesy nutné k tvorbě obrazu, diskutovat funkce jednotlivých částí aparatury a posoudit vhodnost různých typů EM pro měření konkrétních vzorků.
Výstupy z učení
Po úspěšném dokončení tohoto kurzu budou studenti schopni:
– popsat konstrukci jednotlivých typů elektronových mikroskopů,
– popsat jednotlivé části elektronových mikroskopů,
– vysvětlit generování elektronů,
– vysvětlit interakci elektronů se vzorkem a měření výstupního signálu pomocí detektorů,
– popsat komory a stolky v mikroskopech a manipulaci se vzorkem.
Klíčová témata
  • Výběrová přednáška se zabývá elektronovou mikroskopií a příbuznými metodami jak z pohledu fyzikálních principů, konstrukce a výroby přístrojů ale i z hlediska praktického využití uživateli přístrojů.
  • 1. Základy rastrovací a transmisní elektronové mikroskopie
  • 2. Použití elektronové mikroskopie
  • 3. Elektronová a iontová optika
  • 4. Elektronové a iontové zdroje
  • 5. Interakce elektronů a iontů s pevnou látkou
  • 6. Detekce signálu v elektronové mikroskopii
  • 7. Vakuový systém
  • 8. Manipulace s preparátem v elektronovém mikroskopu
  • 9. Speciální stolky preparátu
  • 10. Mikroskop jako systém
  • 11. Kontrast a obraz 1. (SEM)
  • 12. Kontrast a obraz 2 (TEM)
  • 13. Mikroskop jako laboratoř
  • 14. Moderní trendy v elektronové mikroskopii
  • 15. Praktická ukázka
Studijní zdroje a literatura
    doporučená literatura
  • REIMER, Ludwig. Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis. 2nd ed. Berlin: Springer, 1998, xiv, 527. ISBN 3540639764. info
  • REIMER, Ludwig a Helmut KOHL. Transmission electron microscopy : physics of image formation. Fifth edition. New York: Springer, 2008, xvi, 587. ISBN 9780387400938. info
  • GOLDSTEIN, Joseph I. Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis. 3rd ed. New York: Kluwer Academic/Plenum publishers, 2003, xix, 689 s. ISBN 0-306-47292-9. info
  • GOLDSTEIN, Joseph; David C. JOY; Joseph R. MICHAEL; Dale E. NEWBURY; Nicholas W. M. RITCHIE a John Henry J. SCOTT. Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis. Fourth edition. New York: Springer, 2018, xxiii, 550. ISBN 9781493966745. info
  • EGERTON, R. Physical principles of electron microscopy : an introduction to TEM, SEM, and AEM. Second edition. Switzerland: Springer, 2016, xi, 196. ISBN 9783319398761. info
Přístupy, postupy a metody používané ve výuce
přednášky + praktická lekce
Způsob ověření výstupů z učení a požadavky na ukončení
Zápočet udělí vyučující kurzu na základě kolokvia.
Odkaz a informace vyučujících
Vyučující:
Ing. Tomáš Vystavěl, Ph.D. (přednášející) RNDr. Lubomír Tůma (zástupce) a kolektiv
Další komentáře
Studijní materiály
Předmět je vyučován každoročně.
Předmět je zařazen také v obdobích jaro 2012, jaro 2012 - akreditace, jaro 2013, jaro 2014, jaro 2015, jaro 2016, jaro 2018, jaro 2020, jaro 2022, podzim 2024.
  • Statistika zápisu (nejnovější)
  • Permalink: https://is.muni.cz/predmet/sci/podzim2025/F7850