Filtrování

    2009

    1. Tip-sample relaxation as a source of uncertainty in nanoscale scanning probe microscopy measurements
      CAMPBELLOVÁ, Anna; Petr KLAPETEK a Miroslav VALTR. Tip-sample relaxation as a source of uncertainty in nanoscale scanning probe microscopy measurements. Measurement Science and Technology. Bristol, England: IOP Publishing, 2009, roč. 20, č. 084014, 6 s. ISSN 0957-0233.
      Název česky: Relaxace hrotu na vzorku jako zdroj nejistot v SPM meřeních v nanoměřítku
      Název anglicky: Tip-sample relaxation as a source of uncertainty in nanoscale scanning probe microscopy measurements
      RIV/00216224:14310/09:00028548 Článek v odborném periodiku. Fyzika pevných látek a magnetismus. angličtina. Česká republika.
      Campbellová, Anna (203 Česká republika, garant) -- Klapetek, Petr (203 Česká republika) -- Valtr, Miroslav (203 Česká republika)
      Klíčová slova anglicky: atomic force microscopy; uncertainty; DFT; carbon nanotube
      Mezinárodní význam: ano
      Recenzováno: ano
      Změnil: Mgr. Miroslav Valtr, Ph.D., učo 13715. Změněno: 7. 7. 2009 22:47.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/840079/cs

    2008

    1. Surface morphology of amorphous hydrocarbon thin films deposited in pulsed radiofrequency discharge
      VALTR, Miroslav; Petr KLAPETEK; Vilma BURŠÍKOVÁ; Ivan OHLÍDAL a Daniel FRANTA. Surface morphology of amorphous hydrocarbon thin films deposited in pulsed radiofrequency discharge. Chem. listy. Praha: Česká společnost chemická, 2008, roč. 102, č. 16, s. 1529-1532. ISSN 0009-2770.
      URL
      Název česky: Morfologie povrchu amorfních uhlíkových vrstev s příměsí vodíku deponované v pulzním radiofrekvenčním výboji
      Název anglicky: Surface morphology of amorphous hydrocarbon thin films deposited in pulsed radiofrequency discharge
      RIV/00216224:14310/08:00024346 Článek v odborném periodiku. Fyzika plasmatu a výboje v plynech. angličtina. Česká republika.
      Valtr, Miroslav (203 Česká republika, garant) -- Klapetek, Petr (203 Česká republika) -- Buršíková, Vilma (203 Česká republika) -- Ohlídal, Ivan (203 Česká republika) -- Franta, Daniel (203 Česká republika)
      Klíčová slova anglicky: plasma enhanced chemical vapor deposition;pulsed discharge;atomic force microscopy
      Mezinárodní význam: ano
      Recenzováno: ano
      Změnil: Mgr. Miroslav Valtr, Ph.D., učo 13715. Změněno: 8. 12. 2008 13:51.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/798200/cs

    2003

    1. Oriented organic semiconductor thin films
      ANDREEV, A.; R. RESEL; M.D. SMILGIES; H. HOPPE; G. MATT; H. SITTER; N. S. SARICIFTCI; D. MEISSNER; H. PLANK a O. ZRZAVECKA. Oriented organic semiconductor thin films. Synthetic Metals. Elsevier, 2003, roč. 138/2003, 1-2, s. 59-63. ISSN 0379-6779.
      Název česky: Orientované organické tenké vrstvy
      Název anglicky: Oriented organic semiconductor thin films
      Fyzika pevných látek a magnetismus. angličtina. Francie.
      Klíčová slova anglicky: Organic epitaxy; Crystalline thin films; Atomic force microscopy; X-ray diffraction
      Změnila: Mgr. Olga Fikarová Zrzavecká, učo 11887. Změněno: 14. 2. 2005 15:30.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/567120/cs
    2. Study of Plasma Polymerization from Acetylene in Pulsed RF Discharges
      ZAJÍČKOVÁ, Lenka; Siegmar RUDAKOWSKI; Hans-Werner BECKER; Dirk MEYER; Miroslav VALTR a Klaus WIESEMANN. Study of Plasma Polymerization from Acetylene in Pulsed RF Discharges. Thin Solid Films. Oxford: Elsevier, 2003, roč. 2003, č. 425, s. 72-84. ISSN 0040-6090.
      RIV/00216224:14310/03:00008062 Článek v odborném periodiku. Fyzika plasmatu a výboje v plynech. angličtina. Velká Británie a Severní Irsko.
      Zajíčková, Lenka (203 Česká republika, garant) -- Rudakowski, Siegmar (276 Německo) -- Becker, Hans-Werner (276 Německo) -- Meyer, Dirk (276 Německo) -- Valtr, Miroslav (203 Česká republika) -- Wiesemann, Klaus (276 Německo)
      Klíčová slova anglicky: Acetylene; Plasma Enhanced CVD (PECVD); Optical properties; Atomic force microscopy
      Mezinárodní význam: ano
      Recenzováno: ano
      Změnila: doc. Mgr. Lenka Zajíčková, Ph.D., učo 1414. Změněno: 17. 7. 2007 17:57.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/487192/cs
    3. Theoretical analysis of the atomic force microscopy characterization of columnar thin films
      KLAPETEK, Petr a Ivan OHLÍDAL. Theoretical analysis of the atomic force microscopy characterization of columnar thin films. Ultramicroscopy. Amsterdam: Elsevier, 2003, roč. 94, č. 1, s. 19-29. ISSN 0304-3991.
      RIV/00216224:14310/03:00007965 Článek v odborném periodiku. Fyzika pevných látek a magnetismus. angličtina. Nizozemské království.
      Klapetek, Petr (203 Česká republika) -- Ohlídal, Ivan (203 Česká republika, garant)
      Klíčová slova anglicky: columnar films; atomic force microscopy
      Změnil: Mgr. Petr Klapetek, Ph.D., učo 11111. Změněno: 30. 9. 2003 08:53.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/485221/cs

    2002

    1. Applications of atomic force microscopy for thin film boundary measurements
      KLAPETEK, Petr; Ivan OHLÍDAL a Daniel FRANTA. Applications of atomic force microscopy for thin film boundary measurements. Jemná mechanika a optika. Přerov: Physical Institute, ASCR, 2002, roč. 47, 6-7, s. 195-199. ISSN 0447-6441.
      URL
      RIV/00216224:14310/02:00006295 Článek v odborném periodiku. Optika, masery a lasery. angličtina. Česká republika.
      Klapetek, Petr (203 Česká republika) -- Ohlídal, Ivan (203 Česká republika, garant) -- Franta, Daniel (203 Česká republika)
      Klíčová slova anglicky: Roughness; Atomic Force Microscopy
      Změnil: Mgr. Daniel Franta, Ph.D., učo 2000. Změněno: 25. 12. 2003 01:03.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/404728/cs

    2000

    1. Analysis of Slightly Rough Thin Films by Optical Methods and AFM
      FRANTA, Daniel; Ivan OHLÍDAL a Petr KLAPETEK. Analysis of Slightly Rough Thin Films by Optical Methods and AFM. Mikrochim. Acta. Wien: Springer-Verlag, 2000, roč. 132, č. 1, s. 443-447. ISSN 0026-3672.
      URL
      RIV/00216224:14310/00:00002233 Článek v odborném periodiku. Fyzika pevných látek a magnetismus. angličtina. Rakousko.
      Franta, Daniel (203 Česká republika, garant) -- Ohlídal, Ivan (203 Česká republika) -- Klapetek, Petr (203 Česká republika)
      Klíčová slova anglicky: Spectroscopic Ellipsometry; Spectroscopic Reflectometry; Atomic Force Microscopy; Rough Thin Films
      Změnil: Mgr. Daniel Franta, Ph.D., učo 2000. Změněno: 22. 12. 2003 00:23.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/313891/cs

    1999

    1. Sensing of biological substances based on the bending of microfabricated cantilevers
      RAITERI, Roberto; Gabrielle NELLES; Hans-Jurgen BUTT; Wolfgang KNOLL a Petr SKLÁDAL. Sensing of biological substances based on the bending of microfabricated cantilevers. Sensors and Actuators B Chemical. Amsterdam (Holandsko): Elsevier, 1999, roč. 61, č. 1, s. 213-217. ISSN 0925-4005.
      RIV/00216224:14310/99:00001960 Článek v odborném periodiku. Biochemie. angličtina. Nizozemské království.
      Klíčová slova anglicky: atomic force microscopy;biosensor;immunosensor;bending-plate;microfabrication
      Změnil: prof. RNDr. Petr Skládal, CSc., učo 2202. Změněno: 14. 3. 2000 09:42.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/250351/cs

    1998

    1. Analysis of thin films with slightly rough boundaries
      OHLÍDAL, Ivan; Daniel FRANTA; Jaroslav HORA; Karel NAVRÁTIL; Jan WEBER a Pavel JANDA. Analysis of thin films with slightly rough boundaries. Mikrochim. Acta. Wien: Springer-Verlag, 1998, Suppl. 15, č. 1, s. 177-180. ISSN 0026-3672.
      URL
      RIV/00216224:14310/98:00003184 Článek v odborném periodiku. Fyzika pevných látek a magnetismus. angličtina. Německo.
      Ohlídal, Ivan (203 Česká republika, garant) -- Franta, Daniel (203 Česká republika) -- Hora, Jaroslav (203 Česká republika) -- Navrátil, Karel (203 Česká republika)
      Klíčová slova anglicky: Spectroscopic Ellipsometry; Spectroscopic Reflectometry; Atomic Force Microscopy
      Změnil: Mgr. Daniel Franta, Ph.D., učo 2000. Změněno: 19. 12. 2003 19:25.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/200406/cs