Masarykova univerzita

Výpis publikací

česky | in English

Filtrování publikací

    2023

    1. FV0343AR – optický prvek s AR pokrytím pro λ = 343 nm, R < 0,2 %, AOI = 0° - 5°, LIDT fluence > 0,3 J/cm2 pro pulsy 900 fs
      BŘEZINA, Jaromír, Václav PEKAŘ, David ŠKODA, Jan VANDA, Mihai-George MURESAN, Priyadarshani NARAYANASAMY, Martin MYDLÁŘ, Ivan OHLÍDAL, Jan DVOŘÁK, Jiří VOHÁNKA, Daniel FRANTA a Pavel FRANTA. FV0343AR – optický prvek s AR pokrytím pro λ = 343 nm, R < 0,2 %, AOI = 0° - 5°, LIDT fluence > 0,3 J/cm2 pro pulsy 900 fs. 2023.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/2394202/cs
    2. Optical Characterization of Gadolinium Fluoride Films Using Universal Dispersion Model
      FRANTA, Daniel, Jiří VOHÁNKA, Jan DVOŘÁK, Pavel FRANTA, Ivan OHLÍDAL, Petr KLAPETEK, Jaromír BŘEZINA a David ŠKODA. Optical Characterization of Gadolinium Fluoride Films Using Universal Dispersion Model. Coatings. MDPI, 2023, roč. 13, č. 2, s. 1-21. ISSN 2079-6412. Dostupné z: https://dx.doi.org/10.3390/coatings13020218.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/2286924/cs

    2022

    1. Soubor dělicích vrstev ve specifikaci s parametry prvního děliče Rp = 50 % ± 3 % @248 nm; druhého děliče Rp = <0,4; 0,75> a Rs < 1 % na vlnové délce 248 nm a zvýšenou propustností v oblasti od 630 nm do 670 nm.
      PEKAŘ, Václav, Jaromír BŘEZINA, David ŠKODA, Ivan OHLÍDAL, Jiří VOHÁNKA, Daniel FRANTA, Pavel FRANTA, Jan DVOŘÁK, Miloslav OHLÍDAL, Václav ŠULC, Petr KLAPETEK a Marek HAVLÍČEK. Soubor dělicích vrstev ve specifikaci s parametry prvního děliče Rp = 50 % ± 3 % @248 nm; druhého děliče Rp = <0,4; 0,75> a Rs < 1 % na vlnové délce 248 nm a zvýšenou propustností v oblasti od 630 nm do 670 nm. 2022.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/2267879/cs

    2021

    1. Vysoceodrazná vrstva na substrátu ve specifikaci R >= 98,5 % @ 248 nm a R >= 98 % @ 213 nm pro úhel dopadu 45.
      PEKAŘ, Václav, Jaromír BŘEZINA, David ŠKODA, Ivan OHLÍDAL, Jiří VOHÁNKA, Daniel FRANTA, Pavel FRANTA, Jan DVOŘÁK, Miloslav OHLÍDAL, Václav ŠULC, Petr KLAPETEK a Marek HAVLÍČEK. Vysoceodrazná vrstva na substrátu ve specifikaci R >= 98,5 % @ 248 nm a R >= 98 % @ 213 nm pro úhel dopadu 45. 2021.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/2267878/cs

    2020

    1. Antireflexní vrstva na substrátu ve specifikaci T>=99,8 %@ 248 nm a T>=98,5 % @ 213 nm.
      PEKAŘ, Václav, Jaromír BŘEZINA, David ŠKODA, Ivan OHLÍDAL, Jiří VOHÁNKA, Daniel FRANTA, Pavel FRANTA, Miloslav OHLÍDAL, Václav ŠULC, Petr KLAPETEK a Marek HAVLÍČEK. Antireflexní vrstva na substrátu ve specifikaci T>=99,8 %@ 248 nm a T>=98,5 % @ 213 nm. 2020.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/2267877/cs

    2019

    1. Optical properties of the crystalline silicon wafers described using the universal dispersion model
      FRANTA, Daniel, Jiří VOHÁNKA, Martin BRÁNECKÝ, Pavel FRANTA, Martin ČERMÁK, Ivan OHLÍDAL a Vladimír ČECH. Optical properties of the crystalline silicon wafers described using the universal dispersion model. Journal of Vacuum Science & Technology B. New York: A V S AMER INST PHYSICS, 2019, roč. 37, č. 6, s. "062907-1"-"062907-14", 14 s. ISSN 2166-2746. Dostupné z: https://dx.doi.org/10.1116/1.5122284.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/1598876/cs
    2. Temperature dependent dispersion models applicable in solid state physics
      FRANTA, Daniel, Jiří VOHÁNKA, Martin ČERMÁK, Pavel FRANTA a Ivan OHLÍDAL. Temperature dependent dispersion models applicable in solid state physics. Journal of Electrical Engineering. Slovenská technická univezita v Bratislavě, 2019, roč. 70, č. 7, s. 1-15. ISSN 1335-3632. Dostupné z: https://dx.doi.org/10.2478/jee-2019-0036.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/1577498/cs

    2018

    1. Determination of thicknesses and temperatures of crystalline silicon wafers from optical measurements in the far infrared region
      FRANTA, Daniel, Pavel FRANTA, Jiří VOHÁNKA, Martin ČERMÁK a Ivan OHLÍDAL. Determination of thicknesses and temperatures of crystalline silicon wafers from optical measurements in the far infrared region. Journal of Applied Physics. 2018, roč. 123, č. 18, s. 185707-185717. ISSN 0021-8979. Dostupné z: https://dx.doi.org/10.1063/1.5026195.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/1501220/cs

    2017

    1. Temperature-dependent dispersion model of float zone crystalline silicon
      FRANTA, Daniel, Adam DUBROKA, Chennan WANG, Angelo GIGLIA, Jiří VOHÁNKA, Pavel FRANTA a Ivan OHLÍDAL. Temperature-dependent dispersion model of float zone crystalline silicon. Applied Surface Science. Amsterdam: Elsevier Science, 2017, roč. 421, November, s. 405-419. ISSN 0169-4332. Dostupné z: https://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2017.02.021.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/1409192/cs
    2. Universal dispersion model for characterization of optical thin films over wide spectral range: Application to magnesium fluoride
      FRANTA, Daniel, David NEČAS, Angelo GIGLIA, Pavel FRANTA a Ivan OHLÍDAL. Universal dispersion model for characterization of optical thin films over wide spectral range: Application to magnesium fluoride. Applied Surface Science. Amsterdam: Elsevier Science, 2017, roč. 421, November, s. 424-429. ISSN 0169-4332. Dostupné z: https://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2016.09.149.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/1409188/cs

    2015

    1. Optická charakterizace povrchů skel SML3103/3/15
      FRANTA, Daniel a Pavel FRANTA. Optická charakterizace povrchů skel SML3103/3/15. Brno: Preciosa a.s., 2015, 18 s.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/1342797/cs
Zobrazit podrobně
Zobrazeno: 28. 4. 2024 12:09