Filtrování

    2025

    1. Wide spectral range optical characterization of tantalum pentoxide (Ta2O5) films by the universal dispersion model J - Článek v odborném periodiku
      FRANTA, Daniel; Jiří VOHÁNKA; Jan DVOŘÁK; Pavel FRANTA; Ivan OHLÍDAL; Petr KLAPETEK; Jaromir BŘEZINA a David ŠKODA. Wide spectral range optical characterization of tantalum pentoxide (Ta2O5) films by the universal dispersion model. Optical Materials Express. Optica Publishing Group, 2025, roč. 15, č. 4, s. 903-919. ISSN 2159-3930. Dostupné z: https://doi.org/10.1364/OME.550708.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/2493877/cs

    2024

    1. Wide spectral range optical characterization of niobium pentoxide (Nb2O5) films by universal dispersion model J - Článek v odborném periodiku
      FRANTA, Daniel; Beáta HRONCOVÁ; Jan DVOŘÁK; Jiří VOHÁNKA; Pavel FRANTA; Ivan OHLÍDAL; Václav PEKAŘ a David ŠKODA. Wide spectral range optical characterization of niobium pentoxide (Nb2O5) films by universal dispersion model. Optical Materials. Elsevier, 2024, roč. 157, November, s. 1-14. ISSN 0925-3467. Dostupné z: https://doi.org/10.1016/j.optmat.2024.116133.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/2445444/cs

    2023

    1. FV0343AR – optický prvek s AR pokrytím pro λ = 343 nm, R < 0,2 %, AOI = 0° - 5°, LIDT fluence > 0,3 J/cm2 pro pulsy 900 fs G - Technicky realizované výsledky (prototyp, funkční vzorek)
      BŘEZINA, Jaromír; Václav PEKAŘ; David ŠKODA; Jan VANDA; Mihai-George MURESAN; Priyadarshani NARAYANASAMY; Martin MYDLÁŘ; Ivan OHLÍDAL; Jan DVOŘÁK; Jiří VOHÁNKA; Daniel FRANTA a Pavel FRANTA. FV0343AR – optický prvek s AR pokrytím pro λ = 343 nm, R < 0,2 %, AOI = 0° - 5°, LIDT fluence > 0,3 J/cm2 pro pulsy 900 fs. 2023.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/2394202/cs
    2. Optical Characterization of Gadolinium Fluoride Films Using Universal Dispersion Model J - Článek v odborném periodiku
      FRANTA, Daniel; Jiří VOHÁNKA; Jan DVOŘÁK; Pavel FRANTA; Ivan OHLÍDAL; Petr KLAPETEK; Jaromír BŘEZINA a David ŠKODA. Optical Characterization of Gadolinium Fluoride Films Using Universal Dispersion Model. Coatings. MDPI, 2023, roč. 13, č. 2, s. 1-21. ISSN 2079-6412. Dostupné z: https://doi.org/10.3390/coatings13020218.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/2286924/cs

    2022

    1. Soubor dělicích vrstev ve specifikaci s parametry prvního děliče Rp = 50 % ± 3 % @248 nm; druhého děliče Rp = <0,4; 0,75> a Rs < 1 % na vlnové délce 248 nm a zvýšenou propustností v oblasti od 630 nm do 670 nm. G - Technicky realizované výsledky (prototyp, funkční vzorek)
      PEKAŘ, Václav; Jaromír BŘEZINA; David ŠKODA; Ivan OHLÍDAL; Jiří VOHÁNKA; Daniel FRANTA; Pavel FRANTA; Jan DVOŘÁK; Miloslav OHLÍDAL; Václav ŠULC; Petr KLAPETEK a Marek HAVLÍČEK. Soubor dělicích vrstev ve specifikaci s parametry prvního děliče Rp = 50 % ± 3 % @248 nm; druhého děliče Rp = <0,4; 0,75> a Rs < 1 % na vlnové délce 248 nm a zvýšenou propustností v oblasti od 630 nm do 670 nm. 2022.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/2267879/cs

    2021

    1. Vysoceodrazná vrstva na substrátu ve specifikaci R >= 98,5 % @ 248 nm a R >= 98 % @ 213 nm pro úhel dopadu 45. G - Technicky realizované výsledky (prototyp, funkční vzorek)
      PEKAŘ, Václav; Jaromír BŘEZINA; David ŠKODA; Ivan OHLÍDAL; Jiří VOHÁNKA; Daniel FRANTA; Pavel FRANTA; Jan DVOŘÁK; Miloslav OHLÍDAL; Václav ŠULC; Petr KLAPETEK a Marek HAVLÍČEK. Vysoceodrazná vrstva na substrátu ve specifikaci R >= 98,5 % @ 248 nm a R >= 98 % @ 213 nm pro úhel dopadu 45. 2021.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/2267878/cs

    2020

    1. Antireflexní vrstva na substrátu ve specifikaci T>=99,8 %@ 248 nm a T>=98,5 % @ 213 nm. G - Technicky realizované výsledky (prototyp, funkční vzorek)
      PEKAŘ, Václav; Jaromír BŘEZINA; David ŠKODA; Ivan OHLÍDAL; Jiří VOHÁNKA; Daniel FRANTA; Pavel FRANTA; Miloslav OHLÍDAL; Václav ŠULC; Petr KLAPETEK a Marek HAVLÍČEK. Antireflexní vrstva na substrátu ve specifikaci T>=99,8 %@ 248 nm a T>=98,5 % @ 213 nm. 2020.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/2267877/cs

    2019

    1. Optical properties of the crystalline silicon wafers described using the universal dispersion model J - Článek v odborném periodiku
      FRANTA, Daniel; Jiří VOHÁNKA; Martin BRÁNECKÝ; Pavel FRANTA; Martin ČERMÁK; Ivan OHLÍDAL a Vladimír ČECH. Optical properties of the crystalline silicon wafers described using the universal dispersion model. Journal of Vacuum Science & Technology B. New York: A V S AMER INST PHYSICS, 2019, roč. 37, č. 6, s. "062907-1"-"062907-14", 14 s. ISSN 2166-2746. Dostupné z: https://doi.org/10.1116/1.5122284.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/1598876/cs
    2. Temperature dependent dispersion models applicable in solid state physics J - Článek v odborném periodiku
      FRANTA, Daniel; Jiří VOHÁNKA; Martin ČERMÁK; Pavel FRANTA a Ivan OHLÍDAL. Temperature dependent dispersion models applicable in solid state physics. Journal of Electrical Engineering. Slovenská technická univezita v Bratislavě, 2019, roč. 70, č. 7, s. 1-15. ISSN 1335-3632. Dostupné z: https://doi.org/10.2478/jee-2019-0036.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/1577498/cs

    2018

    1. Determination of thicknesses and temperatures of crystalline silicon wafers from optical measurements in the far infrared region J - Článek v odborném periodiku
      FRANTA, Daniel; Pavel FRANTA; Jiří VOHÁNKA; Martin ČERMÁK a Ivan OHLÍDAL. Determination of thicknesses and temperatures of crystalline silicon wafers from optical measurements in the far infrared region. Journal of Applied Physics. 2018, roč. 123, č. 18, s. 185707-185717. ISSN 0021-8979. Dostupné z: https://doi.org/10.1063/1.5026195.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/1501220/cs

    2017

    1. Temperature-dependent dispersion model of float zone crystalline silicon J - Článek v odborném periodiku
      FRANTA, Daniel; Adam DUBROKA; Chennan WANG; Angelo GIGLIA; Jiří VOHÁNKA; Pavel FRANTA a Ivan OHLÍDAL. Temperature-dependent dispersion model of float zone crystalline silicon. Applied Surface Science. Amsterdam: Elsevier Science, 2017, roč. 421, November, s. 405-419. ISSN 0169-4332. Dostupné z: https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2017.02.021.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/1409192/cs
    2. Universal dispersion model for characterization of optical thin films over wide spectral range: Application to magnesium fluoride J - Článek v odborném periodiku
      FRANTA, Daniel; David NEČAS; Angelo GIGLIA; Pavel FRANTA a Ivan OHLÍDAL. Universal dispersion model for characterization of optical thin films over wide spectral range: Application to magnesium fluoride. Applied Surface Science. Amsterdam: Elsevier Science, 2017, roč. 421, November, s. 424-429. ISSN 0169-4332. Dostupné z: https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2016.09.149.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/1409188/cs

    2015

    1. Optická charakterizace povrchů skel SML3103/3/15 V - Výzkumná zpráva
      FRANTA, Daniel a Pavel FRANTA. Optická charakterizace povrchů skel SML3103/3/15. Brno: Preciosa a.s., 2015, 18 s.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/1342797/cs
Zobrazit podrobně