PřF NMICP Mikroskopie
Název anglicky: Microscopy
navazující prezenční jednooborový, vyučovací jazyk: čeština čeština
Zahrnut v programu: PřF N-MIC Mikroskopie

Diplomová práce (min 20kr.)

V prvním semestru studia Mikroskopie se studenti seznamují jak s problematikou elektronové a optické mikroskopie, tak i s místními akademickými a firemními pracovišti působícími v tomto oboru. Proto si studenti témata diplomových prací zapisují až na konci prvního semestru.

Kód Název Garant Ukončení Rozsah Kreditů Semestr Profilace
PřF:F8850Diplomová práce I P. Mikulíkz 0/0/05 2-
PřF:F9850Diplomová práce II P. Mikulíkz 0/0/010 3-
PřF:FA850Diplomová práce III P. Mikulíkz 0/0/020 4-
35 kreditů

Povinné předměty (P a PV více než 90kr.)

Student musí během studia absolvovat všechny povinné předměty.

Kód Název Garant Ukončení Rozsah Kreditů Semestr Profilace
PřF:C9530Strukturní biochemie L. Žídekzk 2/0/02+2 1P
PřF:C99403-Dimensional Transmission Electron Microscopy (3DEM) J. Nováčekzk 2/0/22+2 3P
PřF:F7811Elektronová optika a mikroskopie 1 T. Tyczk 2/1/03+2 1Z
PřF:F7800Teorie a konstrukce optických systémů P. Mikulíkzk 2/1/03+2 1Z
PřF:F7810Mikroskopické praktikum I P. Mikulíkz 0/3/03 1P
PřF:F7815Praxe z mikroskopie I P. Mikulíkk 0/0/0 2 týdny.4 1P
PřF:F7840Transmisní elektronová mikroskopie P. Mikulíkk 2/0/02+1 2Z
PřF:F7850Vybrané kapitoly z elektronové mikroskopie P. Mikulíkk 2/0/02+1 1Z
PřF:F8810Mikroskopické praktikum II P. Mikulíkz 0/0/56 2P
PřF:F8811Elektronová optika a mikroskopie 2 T. Tyczk 2/1/03+2 2P
PřF:F8815Praxe z mikroskopie II P. Mikulíkk 0/0/0 4 týdny.8 2P
PřF:F9810Mikroskopické praktikum III P. Mikulíkz 0/0/56 3P
PřF:F9851Seminář k Diplomové práci II P. Mikulíkz 0/1/01 3-
PřF:FA851Seminář k Diplomové práci III P. Mikulíkz 0/1/01 4-
FI:PB130Úvod do digitálního zpracování obrazu P. Matulazk 2/1/03+2 3P
63 kreditů

Povinně-volitelné předměty

Jazyk

Blok "Pokročilý cizí jazyk": student musí před státní závěrečnou zkouškou absolvovat alespoň jeden z uvedených předmětů (2 kr.) pokročilé jazykové zkoušky.

Kód Název Garant Ukončení Rozsah Kreditů Semestr Profilace
PřF:JA002Pokročilá odborná angličtina - zkouška E. Čoupkovázk 0/0/02 --
PřF:JF002Pokročilá odborná francouzština - zkouška D. Veškrnovázk 0/0/02 --
PřF:JN002Pokročilá odborná němčina - zkouška P. Chládkovázk 0/0/02 --
PřF:JR002Pokročilá odborná ruština - zkouška M. Ševečkovázk 0/0/02 --
PřF:JS002Pokročilá odborná španělština - zkouška J. Žváčkovázk 0/0/02 --
10 kreditů

Odborné předměty

Student si volí z níže uvedeného seznamu předměty za alespoň 10 kreditů. Student musí za studium dosáhnout celkem 120 kreditů, k doplnění tak využije tyto předměty, případně jiné předměty z nabídky PřF nebo FI podle zaměření diplomové práce. Některé z předmětů se vyučují pouze jednou za dva roky. Od druhého semestru doporučujeme při výběru konzultaci s vedoucím diplomové práce.

Kód Název Garant Ukončení Rozsah Kreditů Semestr Profilace
PřF:Bi1700Buněčná biologie R. Veselskázk 2/0/02+2 1-
PřF:C3002Nanobiotechnology P. Skládalzk 2/0/02+2 2-
PřF:F4160Vakuová fyzika 1 P. Slavíčekzk 2/1/02+2 2-
PřF:F4500Python pro fyziky F. Hrochk 1/2/03+1 4-
PřF:F5090Elektronika (2a) P. Sťahelzk 2/1/02+2 2-
PřF:F5330Základní numerické metody J. Chaloupkaz 1/1/03 1-
PřF:F5900Fyzika ve firmě D. Kováčikz 2/0/02 2-
PřF:F6150Pokročilé numerické metody J. Chaloupkak 2/1/03+1 4-
PřF:F6530Spektroskopické metody A. Dubrokak 2/1/03+1 3-
PřF:F6540Základy technologie výroby polovodičů P. Mikulíkk 3/0/03+1 3-
PřF:F7360Charakterizace povrchů a tenkých vrstev L. Zajíčkovák 2/1/02+1 2-
PřF:F7560Modelování metodou Monte Carlo D. Trunecz 1/1/02 3-
PřF:F8370Moderní metody modelování ve fyzice D. Munzark 2/1/03+1 2-
PřF:FB820Strukturní elektronová mikroskopie J. Nováčekzk 2/0/02+2 3-
FI:PV131 -- 0/0- 4-
50 kreditů

Volitelné předměty

Student si kromě povinných a povinně-volitelných předmětů může vybírat další předměty z nabídky PřF a FI tak, aby za studium dosáhl 120 kreditů. Od druhého semestru doporučujeme při výběru konzultaci s vedoucím diplomové práce.

Kód Název Garant Ukončení Rozsah Kreditů Semestr Profilace
PřF:F7320Mikroskopie atomové síly a další metody sondové rastrovací mikroskopie I. Ohlídalk 2/0/02+1 3-
3 kredity